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公开(公告)号:FR3107591B1
公开(公告)日:2022-04-08
申请号:FR2001912
申请日:2020-02-26
Applicant: HORIBA FRANCE SAS
Inventor: LADEN SÉBASTIEN , KOKOTA ALEXANDRE
Abstract: L’invention concerne un procédé d’acquisition et de formation d’une image de spectrométrie (IS) d’un échantillon (1) comprenant les étapes suivant :e1) acquisition d’une image initiale (II), composée de pixels, d’une zone de l’échantillon et définition d’un ensemble maximal de N, 2≤N, positions de mesure (PM) de spectrométrie, chaque position de mesure comprenant une coordonnée (CX ; CY) et une intensité (IR1 ; IR2 ; IG1 ; IG2 ; IB1 ; IB2) déterminée sur la base des pixels ;e2) attribution d’une valeur de classement à chacune des N positions de mesure sur la base d’écarts, calculé sur la base d’une différence d’intensité et d’une différence de coordonnées, entre les positions de mesure ;e3) détermination d’un groupe de P, 1≤P≤N, positions de mesure en fonction des valeurs de classement ;e4) successivement, pour chaque position de mesure du groupe, positionnement d’un faisceau d’excitation (2) en ladite position de mesure sur la zone de l’échantillon, acquisition d’une mesure de spectrométrie et formation de l’image de spectrométrie. Figure d’abrégé : figure 3.
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公开(公告)号:FR3107591A1
公开(公告)日:2021-08-27
申请号:FR2001912
申请日:2020-02-26
Applicant: HORIBA FRANCE SAS
Inventor: LADEN SÉBASTIEN , KOKOTA ALEXANDRE
Abstract: L’invention concerne un procédé d’acquisition et de formation d’une image de spectrométrie (IS) d’un échantillon (1) comprenant les étapes suivant :e1) acquisition d’une image initiale (II), composée de pixels, d’une zone de l’échantillon et définition d’un ensemble maximal de N, 2≤N, positions de mesure (PM) de spectrométrie, chaque position de mesure comprenant une coordonnée (CX ; CY) et une intensité (IR1 ; IR2 ; IG1 ; IG2 ; IB1 ; IB2) déterminée sur la base des pixels ;e2) attribution d’une valeur de classement à chacune des N positions de mesure sur la base d’écarts, calculé sur la base d’une différence d’intensité et d’une différence de coordonnées, entre les positions de mesure ;e3) détermination d’un groupe de P, 1≤P≤N, positions de mesure en fonction des valeurs de classement ;e4) successivement, pour chaque position de mesure du groupe, positionnement d’un faisceau d’excitation (2) en ladite position de mesure sur la zone de l’échantillon, acquisition d’une mesure de spectrométrie et formation de l’image de spectrométrie. Figure d’abrégé : figure 3.
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