FORMANGEPASSTE ERSATZ-GATE-ELEKTRODE FÜR KURZKANALEINHEITEN

    公开(公告)号:DE112018004463T5

    公开(公告)日:2020-06-18

    申请号:DE112018004463

    申请日:2018-10-12

    Applicant: IBM ULVAC INC

    Abstract: Eine Gate-Struktur für Anpassungen der effektiven Austrittsarbeit von Halbleitereinheiten, welche ein Gate-Dielektrikum auf einer Kanalzone einer Halbleitereinheit; ein erstes Metallnitrid in direktem Kontakt mit dem Gate-Dielektrikum; eine formangepasste Materialschicht eines Carbids von Aluminium mit einem Aluminiumgehalt von mehr als 30 Atom-Gew.-% und eine zweite Metallnitridschicht in direktem Kontakt mit der formangepassten Aluminium (AI) und Kohlenstoff (C) enthaltenden Materialschicht umfasst. Die formangepasste Schicht des Carbids von Aluminium (AI) umfasst Aluminiumcarbid oder AlC, welches einen Aluminium(AI)-Gehalt von bis zu 57 Atom% (At.%) ergibt, und eine Austrittsarbeitseinstellung von 3,9 eV bis 5,0 eV bei Dicken von weniger als 2,5 nm. Solche Strukturen können eine Skalierung der Metall-Gate-Längen und einen Widerstandsvorteil von weniger als 25 nm im Vergleich zu Austrittsarbeitselektroden des Stands der Technik ergeben.

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