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公开(公告)号：DE102012107766A1
公开(公告)日：2013-02-28
申请号：DE102012107766
申请日：2012-08-23
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor： CORTIGIANI FABRIZIO , LOGIUDICE ANDREA , EDER ANDREAS , CAPODIVACCA GIOVANNI
IPC: H05B37/03
Abstract: Es wird eine Schaltung beschrieben zum Erkennen von Fehlfunktionen in einer Beleuchtungseinheit, die eine Vielzahl in Serie geschalteter Leuchtdioden umfasst. Die Schaltung umfasst einen ersten, einen zweiten und einen dritten Schaltungsknoten, die zusammen eine Schnittstelle zu der Beleuchtungseinrichtung bilden, so dass die Spannung, welche die Vielzahl von Leuchtdioden versorgt, zwischen dem ersten und dem zweiten Schaltungsknoten anliegt sowie ein erster Bruchteil der Versorgungsspannung zwischen dem dritten und dem zweiten Schaltungsknoten anliegt. Die Schaltung umfasst des Weiteren eine Auswerteeinheit, die mit dem ersten, dem zweiten und dem dritten Schaltungsknoten gekoppelt ist, und die dazu ausgebildet ist, zu prüfen, ob die Spannung, die am dritten Schaltungsknoten anliegt, innerhalb eines vordefinierten Toleranzbereichs um einen nominellen Wert liegt. Dieser nominelle Wert ist definiert als zweiter Bruchteil der Versorgungsspannung, der zwischen dem ersten und dem zweiten Schaltungsknoten anliegt. Des Weiteren wird der zweite Bruchteil derart voreingestellt, dass der nominelle Wert im Wesentlichen gleich der Spannung an dem dritten Schaltungsknoten ist, wenn die Beleuchtungseinrichtung nur fehlerlose Leuchtdioden enthält.
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公开(公告)号：DE602005005822T2
公开(公告)日：2009-04-30
申请号：DE602005005822
申请日：2005-09-29
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor： CAPODIVACCA GIOVANNI , FLORIO NICOLA , GALVANO MAURIZIO
IPC: H03K17/06
Abstract: The invention relates to method for controlling a first transistor (T1) in a half-bridge circuit which includes the first transistor (T1) and a second transistor (T2), each of which Transistors (T1, Z2) comprises a load path (D-S) and a control gate (G), whose load paths are connected in series, and for which the first transistor (T1) can be controlled by applying a first drive voltage (Vgs1) to its gate (G) and the second transistor (T2) can be controlled by applying a second drive voltage (Vgs2) to its gate (G), the method comprising the method steps: - during a switch-off operation of the second transistor (T2), comparison of the amplitude of the second drive voltage (Vgs2) with a first threshold value (Vth0) and a second threshold value (Vth1), - start of a switch-on operation for the second transistor (T2) after expiry of a specified first period (Tf) after a first time (t0) at which the second drive voltage undershoots the first threshold value (Vth0), - setting of the first threshold value (Vth0) in accordance with a second period (T) between a second time (t1), at which the amplitude of the second drive voltage (Vgs2) undershoots the second threshold value (Vth1), and with another time (t3) at which the first transistor adopts a specified initial operating state during the switch-on operation.
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公开(公告)号：DE102014115204B4
公开(公告)日：2020-08-20
申请号：DE102014115204
申请日：2014-10-20
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor： DE CICCO ADOLFO , CAPODIVACCA GIOVANNI
Abstract: Vorrichtung (100), die umfasst:- eine gemeinsame Netzleitung (191),- eine gemeinsame Testleitung (393), und- eine Vielzahl von Zellen (110-1 - 110-3), wobei jede der Vielzahl von Zellen (110-1 - 110-3) umfasst:- einen Feldeffekttransistor (120), der einen Gate-Kontakt (121-3), einen ersten Kontakt (121-1) und einen zweiten Kontakt (121-2) umfasst, wobei der erste Kontakt (121-1) einer von einem Quellen-Kontakt und einem Drain-Kontakt des Feldeffekttransistors (120) ist, und mit der gemeinsamen Netzleitung (191) gekoppelt ist, wobei der zweite Kontakt (121-2) der andere von dem Quellen-Kontakt und dem Drain-Kontakt ist und- einen Schalter (301), der eingerichtet ist, um den zweiten Kontakt (121-2) des entsprechenden Feldeffekttransistors (120) wahlweise in einer geschlossenen Position mit der gemeinsamen Testleitung (393) zu koppeln, wobei die Vorrichtung (100) weiterhin umfasst:- eine Steuereinheit (310), die eingerichtet ist, um die Schalter (301) der Vielzahl von Zellen (110-1 - 110-3) zu steuern, sodass diese in der geschlossenen Position sind,- mindestens einen Anschluss (171-1, 171-3), der eingerichtet ist, um eine Belastungsspannung an die gemeinsame Netzleitung (191) und die gemeinsame Testleitung (393) anzuwenden, wenn zumindest einer der Schalter (301) in der geschlossenen Position ist.
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公开(公告)号：DE102016109296A1
公开(公告)日：2016-11-24
申请号：DE102016109296
申请日：2016-05-20
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor： SCENINI ANDREA , CAPODIVACCA GIOVANNI , CICCO ADOLFO DE
Abstract: Es wird eine Vorrichtung zum Ansteuern mehrerer Lichtquellen bereitgestellt, wobei die mehreren Lichtquellen in einer Matrixstruktur angeordnet sind; wobei die mehreren Lichtquellen der Matrixstruktur mit einer Halbleitervorrichtung verbunden sind; wobei ein Teil der Halbleitervorrichtung einer Lichtquelle der Matrixstruktur entspricht; wobei der Teil der Halbleitervorrichtung eine Diagnosefunktion umfasst, die, wenn sie aktiviert wird, dafür ausgelegt ist, ein Ausgangsdiagnosesignal zu liefern.
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公开(公告)号：DE102014115204A1
公开(公告)日：2016-04-21
申请号：DE102014115204
申请日：2014-10-20
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor： DE CICCO ADOLFO , CAPODIVACCA GIOVANNI
Abstract: Eine Vorrichtung (100) umfasst eine Vielzahl von Zellen (110-1, 110-2, 110-3). Jede Zelle umfasst einen Feldeffekttransistor (120) und einen Schalter (301), der eingerichtet ist, um wahlweise einen zweiten Kontakt (121-2) des entsprechenden Feldeffekttransistors (120) mit einer gemeinsamen Testleitung (193) der Vorrichtung (100) zu verbinden. Eine Steuereinheit (310) der Vorrichtung (100) ist eingerichtet, um den Schalter (301) zu steuern, sodass dieser in einer geschlossenen Position ist. Mindestens ein Anschluss (171-1, 171-3) wird bereitgestellt, der eingerichtet ist, um eine Belastungsspannung an eine gemeinsame Netzleitung (191) anzuwenden, wobei die gemeinsame Netzleitung (191) mit einem ersten Kontakt (121-1) des Feldeffekttransistors (120) und der gemeinsamen Testleitung (393) verbunden ist.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：DE102012107766B4
公开(公告)日：2019-01-31
申请号：DE102012107766
申请日：2012-08-23
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor： CORTIGIANI FABRIZIO , LOGIUDICE ANDREA , EDER ANDREAS , CAPODIVACCA GIOVANNI
IPC: H05B37/03
Abstract: Vorrichtung zur Erkennung von Fehlfunktionen in einer Beleuchtungseinheit, die eine Vielzahl von in Serie geschalteter Leuchtdioden (LD, LD, ..., LD) aufweist; die Vorrichtung umfasst:einen ersten, einen zweiten und einen dritten Schaltungsknoten (A; C; B), die eine Schnittstelle zu der Beleuchtungseinheit bilden, so dass die Spannung (V), welche die Vielzahl von Leuchtdioden (LD, LD, ..., LD) versorgt, zwischen dem ersten und dem zweiten Schaltungsknoten (A; C) anliegt und ein erster Bruchteil der Versorgungsspannung (V) zwischen dem dritten und dem zweiten Schaltungsknoten (B; C) anliegt;eine Auswerteeinheit, die mit dem ersten, dem zweiten und dem dritten Schaltungsknoten (A; B; C) verbunden und dazu ausgebildet ist, auszuwerten, ob der erste Bruchteil der Versorgungsspannung (V) innerhalb eines vordefinierten Toleranzbereichs (ΔV) um einen Sollwert liegt, der definiert ist als zweiter Bruchteil der Versorgungsspannung (k· V), wobei der zweite Bruchteil (k·V) derart voreingestellt ist, dass der Sollwert im Wesentlichen gleich jener Spannung ist, welche zwischen dritten und zweiten Schaltungsknoten anliegt, wenn die Beleuchtungseinheit ausschließlich funktionsfähige LEDs umfasst; undeine Schaltungsanordnung, die dazu ausgebildet ist, wenn eine defekte Leuchtdiode detektiert wurde, den voreingestellten zweiten Bruchteil (V) zu aktualisieren, sodass der zweite Bruchteil (k· V) wieder dem ersten Bruchteil (V) der Versorgungsspannung entspricht, und die weiter dazu ausgebildet ist, einen Zähler zu erhöhen, der die Anzahl der defekten Leuchtdioden zählt.
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公开(公告)号：DE102011087387B4
公开(公告)日：2017-04-06
申请号：DE102011087387
申请日：2011-11-30
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor： CAPODIVACCA GIOVANNI , CORTIGIANI FABRIZIO , SCENINI ANDREA
IPC: H05B37/02
Abstract: Treiberschaltkreis zum Treiben von wenigstens zwei LED-Ketten (LD1, LD2), wobei der Treiberschaltkreis einen Schaltwandler (5) und wenigstens zwei Abwärtswandler (1) aufweist, wobei an jeden der Abwärtswandler (1) eine LED-Kette (LD1, LD2) anschließbar ist, um die betreffende LED-Kette (LD1, LD2) mit einem Laststrom zu versorgen, wobei jedem der Abwärtswandler eine Eingangsspannung (VBOOST) zugeführt ist, wobei jeder der Abwärtswandler (1) dazu ausgebildet ist, die angeschlossene LED-Kette (LD1, LD2) derart mit einer Versorgungsspannung (VBUCK1, VBUCK2) zu versorgen, dass ein resultierender Laststrom der LED-Kette (LD1, LD2) wenigstens annähernd mit einem vorgegebenen Referenzstromwert übereinstimmt, und wobei für jeden Abwärtswandler (1) das Verhältnis zwischen der bereitgestellten Versorgungsspannung (VBUCK1, VBUCK2) und der Eingangsspannung (VBOOST) durch ein Tastverhältnis (D1, D2) bestimmt ist, wobei der Schaltwandler (5) von einer Spannungsquelle eine Treiberversorgungsspannung (VIN) empfangen kann und der dazu ausgebildet ist, die Eingangsspannung (VBOOST) der Abwärtswandler (1) als Ausgangsspannung (VBOOST) bereitzustellen, und wobei der Schaltwandler (5) weiter dazu ausgebildet ist, die Eingangsspannung (VBOOST) der Abwärtswandler derart einzustellen, dass das Tastverhältnis (D1) jenes Abwärtswandlers (1), der mit dem höchsten Tastverhältnis (D1) arbeitet, kleiner ist als ein vorgegebenes Referenz-Tastverhältnis (DREF) oder mit dem Referenz-Tastverhältnis (DREF) übereinstimmt.
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公开(公告)号：DE102014117578A1
公开(公告)日：2015-06-11
申请号：DE102014117578
申请日：2014-12-01
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor： CAPODIVACCA GIOVANNI
Abstract: Verfahren, Vorrichtungen und Schaltungen sind offenbart, die einen ersten Pegel eines Ausgangsstroms an eine oder mehrere Lasten in einem Abwärts/Aufwärtswandler mit einer Induktivität abgeben. Die Verfahren, Vorrichtungen und Schaltungen können ferner offenbart sein, dass sie als Antwort auf eine Angabe einer geänderten Ausgangsstromanforderung an eine oder mehrere Lasten in einem Abwärts/Aufwärtswandler mit einer Induktivität, ein oder mehrere Elemente, einschließlich des Vorwärtsregelungselements, mit einer Änderung in einer zugeführten Referenzspannung beaufschlagen, wobei ein Beaufschlagen des Vorwärtsregelungselements mit der Änderung in der zugeführten Referenzspannung eine Einstellung des Ausgangsstroms von dem ersten Pegel auf einen zweiten Pegel, entsprechend der geänderten Stromausgangsanforderung, verursacht.
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公开(公告)号：DE102011087387A1
公开(公告)日：2012-05-31
申请号：DE102011087387
申请日：2011-11-30
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor： CAPODIVACCA GIOVANNI , CORTIGIANI FABRIZIO , SCENINI ANDREA
IPC: H05B37/02
Abstract: Ein Treiberschaltkreis umfasst einen Abwärtswandler (1), der mit einer LED-Kette (LD1, LD2) gekoppelt ist, um diese mit einem Laststrom zu versorgen. Der Abwärtswandler (1) empfängt eine Eingangsspannung (VBOOST) und ist dazu ausgebildet, die zugeordnete LED-Kette (LD1, LD2) mit einer Betriebsspannung (VBUCK1, VBUCK2)zu versorgen, so dass der resultierende Laststrom der LED-Kette (LD1, LD2) wenigstens annähernd mit einem vorgegebenen Referenzstromwert (VREF) übereinstimmt. Der Treiberschaltkreis umfasst weiterhin einen Schaltwandler (5), der von einer Spannungsquelle eine Versorgungsspannung (VIN) erhält und der die Eingangsspannung (VBOOST) für die Abwärtswandler (1) als Ausgangsspannung (VBOOST) bereitstellt. Der Schaltwandler (5) ist dazu ausgebildet, die Eingangsspannung (VBOOST) für die Abwärtswandler (1) so bereitzustellen, dass das Maximum der Verhältnisse zwischen der Eingangsspannung (VBOOST) und der Versorgungsspannung (VBUCK1, VBUCK2), die den LED-Ketten (LD1, LD2) zugeführt wird, mit einem vorgegebenen Toleranz-Referenzverhältnis übereinstimmt.
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10.发明专利
公开(公告)号：DE602004029667D1
公开(公告)日：2010-12-02
申请号：DE602004029667
申请日：2004-08-04
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor： GALVANO MAURIZIO CDA , CAPODIVACCA GIOVANNI , FLORIO NICOLA
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