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    Signalerzeugungsschaltung
    1.
    发明专利
    Signalerzeugungsschaltung 未知

    公开(公告)号：DE102013220157A1

    公开(公告)日：2014-04-24

    申请号：DE102013220157

    申请日：2013-10-04

    Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

    Inventor： ARNOLD RALF ,  MATTES HEINZ ,  OBERMEIR HERMANN

    IPC: H03M1/10

    Abstract: Offenbart sind eine Signalerzeugungsschaltung und ein Signalerzeugungsverfahren. Die Signalerzeugungsschaltung umfasst: einen Analogsignalgenerator (1), der so konfiguriert ist, um ein Analogausgangssignal (s1(t)) in Übereinstimmung mit einem Taktgebungsparameter zu erzeugen; einen Analog-zu-Digital-Wandler (ADW) (3) umfassend einen Eingang, der so konfiguriert ist, um das Analogausgangssignal (s1(t)) zu empfangen, den ADW, der so konfiguriert ist, um an einem Ausgang eine Sequenz von Signalwerten in Abhängigkeit von dem am Eingang empfangenen Analogausgangssignal (s1(t)) zu erzeugen; einen konfigurierbaren Digitalsignalgenerator (2), der so konfiguriert ist, dass er ein Digitalausgangssignal (s2(k)) in Übereinstimmung mit an einem Steuereingang empfangenen Signalparametern erzeugt; eine Steuerschaltung (4) umfassend einen Eingang, der mit dem Ausgang des ADW verbunden ist, einen ersten Steuerausgang, der mit dem Steuereingang des Analogsignalgenerators (1) verbunden ist und einen zweiten Steuerausgang, der mit einem Steuereingang des Digitalsignalgenerators (2) verbunden ist, wobei die Steuerschaltung (4) in einem Kalibrierungsablauf so konfiguriert ist, dass der Analogsignalgenerator (1) ein Analogausgangssignal (s1(t)) erzeugt, dass er den Taktgebungsparameter des Analogausgangssignals (s1(t)) basierend auf dem Ausgangssignal des ADW (3), welches am Eingang der Steuerschaltung (4) empfangen wurde, bestimmt und, dass er die Signalparameter des Digitalsignalgenerators (2) in Abhängigkeit von dem bestimmten Taktgebungsparameter des Analogsignalgenerators (1) festlegt.

    Testvorrichtung zum Testen von elektrischen Schaltungen sowie Verfahren zum parallelen Testen von elektrischen Schaltungen
    2.
    发明专利
    Testvorrichtung zum Testen von elektrischen Schaltungen sowie Verfahren zum parallelen Testen von elektrischen Schaltungen 未知

    公开(公告)号：DE10341836B4

    公开(公告)日：2013-05-29

    申请号：DE10341836

    申请日：2003-09-09

    Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

    Inventor： MATTES HEINZ ,  SATTLER SEBASTIAN

    IPC: G01R31/3167 ,  G01R31/3193 ,  G01R35/00 ,  H03M1/10

    Abstract: Testvorrichtung (2) zum Testen von elektrischen Schaltungen (21, 22, 23), wobei die Testvorrichtung (2) die folgenden Merkmale aufweist: – wenigstens zwei Eingangskontakte (211, 221, 231), die zum Anschluss an die elektrischen Schaltungen (21–23) bestimmt sind, wobei an den Eingangskontakten (211, 221, 231) verschiedene elektrische Schaltungen anschließbar sind, – für jeden Eingangskontakt (211, 221, 231) ist je eine elektrische Kurzschlussschutz-Schaltung (506, 516, 526) vorhanden, – der Ausgang jeder elektrischen Kurzschlussschutz-Schaltung (506, 516, 526) ist mit dem zugehörigen Eingangskontakt (211, 221, 231) verbunden, – einen Signalgenerator (201), der zum Generieren eines Testsignals bestimmt ist und der über je eine Anschlussleitung (409) mit jedem Eingang der elektrischen Kurzschlussschutz-Schaltungen (506, 516, 526) verbunden ist, – durch jede Kurzschlussschutz-Schaltung (506, 516, 526) ist der jeweilige Eingangskontakt (211, 221, 231) von der vor dem Eingang der elektrischen Kurzschlussschutz-Schaltung (506, 516, 526) liegenden Anschlussleitung (409) entkoppelbar, wobei jede elektrische Kurzschlussschutz-Schaltung (506, 516, 526) über einen Trennschalter (51) sowie über einen parallel zum Trennschalter (51) geschalteten Trennverstärker (52) verfügt, wobei die Eingänge des Trennschalters (51) und des Trennverstärkers (52) an den Signalgenerator (201) und die Ausgänge des Trennschalters (51) und des Trennverstärkers (52) an den jeweiligen Eingangskontakt (211, 221, 231) angeschlossen sind.

    Signalerzeugungsschaltung
    6.
    发明专利
    Signalerzeugungsschaltung 未知

    公开(公告)号：DE102013220157B4

    公开(公告)日：2017-05-24

    申请号：DE102013220157

    申请日：2013-10-04

    Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

    Inventor： ARNOLD RALF ,  MATTES HEINZ ,  OBERMEIR HERMANN

    IPC: H03M1/10 ,  H03M1/12 ,  H03M1/56

    Abstract: Signalerzeugungsschaltung, umfassend: einen Analogsignalgenerator (1), der dazu konfiguriert ist, ein Analogausgangssignal (s1(t)) in Übereinstimmung mit einem Timing-Parameter zu erzeugen; einen Analog-zu-Digital-Wandler (3) mit einem Eingang, der dazu konfiguriert ist, das Analogausgangssignal (s1(t)) zu empfangen, wobei der Analog-zu-Digital-Wandler dazu konfiguriert ist, an einem Ausgang eine Sequenz von Signalwerten in Abhängigkeit von dem am Eingang empfangenen Analogausgangssignal (s1(t)) zu erzeugen; einen konfigurierbaren Digitalsignalgenerator (2), der dazu konfiguriert ist, ein Digitalausgangssignal (s2(k)) in Übereinstimmung mit an einem Steuereingang empfangenen Signalparametern zu erzeugen; eine Steuerschaltung (4) mit einem Eingang, der mit dem Ausgang des ADW verbunden ist, einem ersten Steuerausgang, der mit einem Steuereingang des Analogsignalgenerators (1) verbunden ist, und einem zweiten Steuerausgang, der mit einem Steuereingang des Digitalsignalgenerators (2) verbunden ist, wobei die Steuerschaltung (4) dazu konfiguriert ist, in einem Kalibrierungslauf den Analogsignalgenerator (1) das Analogausgangssignal (s1(t)) erzeugen zu lassen, den Timing-Parameter des Analogausgangssignals (s1(t)) basierend auf dem am Eingang der Steuerschaltung (4) empfangenen Ausgangssignal des Analog-zu-Digital-Wandlers (3) zu bestimmen und Signalparameter des Digitalsignalgenerators (2) in Abhängigkeit von dem bestimmten Timing-Parameter des Analogsignalgenerators (1) einzustellen.

    Vorrichtung und Verfahren zum Charakterisieren von AD-Wandlern
    7.
    发明专利
    Vorrichtung und Verfahren zum Charakterisieren von AD-Wandlern 未知

    公开(公告)号：DE102013007903B4

    公开(公告)日：2016-11-10

    申请号：DE102013007903

    申请日：2013-05-07

    Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

    Inventor： MATTES HEINZ

    IPC: H03M1/10 ,  H03M1/12

    Abstract: Verfahren zum Charakterisieren eines Analog-Digital-Wandlers, wobei der Analog-Digital-Wandler (4) zum Wandeln eines Eingangssignals (uin) in ein digitales Ausgangssignal (out) eingerichtet ist, und das Verfahren folgende Schritte aufweist: – Anlegen eines Signals, das in einer ersten Phase (ta – tb) einen Verlauf einer steigenden Exponentialfunktion mit der eulerschen Zahl als Basis hat und in einer weiteren Phase (tc – td) einen Verlauf einer fallenden Exponentialfunktion mit der eulerschen Zahl als Basis hat, als Eingangssignal (uin) an den Analog-Digital-Wandler (4), – Integrieren des digitalen Ausgangssignals (out) während der ersten Phase (ta – tb) zu einer ersten Summe (Ssteig), – Integrieren des digitalen Ausgangssignals (out) während der weiteren Phase (tc – td) zu einer zweiten Summe (Sfall), – Berechnen aus der ersten Summe und der zweiten Summe zumindest einen der Parameter Verstärkungsfehler des Analog-Digital-Wandlers und Nullpunktfehler des Analog-Digital-Wandlers.

    8.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE10349933B4

    公开(公告)日：2008-03-27

    申请号：DE10349933

    申请日：2003-10-24

    Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

    Inventor： SATTLER SEBASTIAN ,  MATTES HEINZ ,  LEININGER ANDREAS ,  GOESSEL MICHAEL

    IPC: G01R31/3183 ,  G01R31/28 ,  G01R31/317 ,  G01R31/3185 ,  G01R31/319 ,  G01R31/3193 ,  H01L21/66

    Abstract: An evaluation circuit and method for detecting faulty data words in a data stream is disclosed. In one embodiment the evaluation circuit according to the invention includes a first linear automaton circuit and also a second linear automaton circuit connected in parallel, each having a set of states z, which have a common input line for receiving a data stream Tn. The first linear automaton circuit and the second linear automaton circuit are designed such that a first signature and a second signature, respectively, can be calculated. Situated downstream of the two linear automaton circuits are respectively a first logic combination gate and a second logic combination gate, which compare the signature respectively calculated by the linear automaton circuit with a predeterminable good signature and output a comparison value.

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