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公开(公告)号：CN101368848B
公开(公告)日：2012-10-10
申请号：CN200810147388.2
申请日：2008-08-13
Applicant: JDS尤尼弗思公司
Inventor： 道格拉斯·E.·克拉夫茨 , 沈锦熙 , 飞利浦·达根 , 詹姆士·F.·法雷尔 , 巴特勒米·方达 , 埃里塞欧·兰奈利
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/18 , G02B6/12019
Abstract: 本发明涉及一种具有探测器阵列的扫描光学光谱仪，其中利用微机电(MEMS)可倾斜微镜扫描在诸如具有平板波导输入的阵列波导光栅(AWG)的色散元件的输入端的光的聚焦光斑的位置，以便在耦合到AWG的探测器阵列上扫描光的色散光谱。用处理器单元连接单个探测器记录的亚光谱以获得输入光的光谱。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102322955B
公开(公告)日：2014-10-08
申请号：CN201110247333.0
申请日：2008-08-13
Applicant: JDS尤尼弗思公司
Inventor： 道格拉斯·E.·克拉夫茨 , 沈锦熙 , 飞利浦·达根 , 詹姆士·F.·法雷尔 , 巴特勒米·方达 , 埃里塞欧·兰奈利
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/18 , G02B6/12019
Abstract: 本发明涉及一种具有探测器阵列的扫描光学光谱仪，其中利用微机电(MEMS)可倾斜微镜扫描在诸如具有平板波导输入的阵列波导光栅(AWG)的色散元件的输入端的光的聚焦光斑的位置，以便在耦合到AWG的探测器阵列上扫描光的色散光谱。用处理器单元连接单个探测器记录的亚光谱以获得输入光的光谱。
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公开(公告)号：CN1937458A
公开(公告)日：2007-03-28
申请号：CN200610086935.1
申请日：2006-06-19
Applicant: JDS尤尼弗思公司
Inventor： 沈锦熙
CPC classification number: H04B10/07953
Abstract: 本发明采用了两个光束之间的相干干涉效应，一个光束相对另一个模拟光束被施加可控的可变延时，以获得干扰振幅的振荡分量的卷积曲线，其峰值表示0比特与1比特之间的性能差，所述干扰振幅的振荡分量是所述延时的函数。在相干长度内，所述卷积曲线由干扰振幅的菱形图(DD)表示。所述峰值和用DD张开度的大小被用来表征脉冲光信号，方法是确定预定义信号参数组中的至少一个参数，所述参数组包括信号劣化、光学色散、信号相干长度、信号调制类型和信噪比等。可任意选用自由空间式马赫－策恩德尔(Mach－Zehnder)干涉仪、集成式Mach－Zehnder干涉仪、迈克尔逊(Michelson)干涉仪或它们的组合来实现双光束干涉效应。
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公开(公告)号：CN1937458B
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN200610086935.1
申请日：2006-06-19
Applicant: JDS尤尼弗思公司
Inventor： 沈锦熙
IPC: H04B10/079 , H04L25/06 , G01B9/02
CPC classification number: H04B10/07953
Abstract: 本发明采用了两个光束之间的相干干涉效应，一个光束相对另一个模拟光束被施加可控的可变延时，以获得干扰振幅的振荡分量的卷积曲线，其峰值表示0比特与1比特之间的性能差，所述干扰振幅的振荡分量是所述延时的函数。在相干长度内，所述卷积曲线由干扰振幅的菱形图(DD)表示。所述峰值和用DD张开度的大小被用来表征脉冲光信号，方法是确定预定义信号参数组中的至少一个参数，所述参数组包括信号劣化、光学色散、信号相干长度、信号调制类型和信噪比等。可任意选用自由空间式马赫-策恩德尔(Mach-Zehnder)干涉仪、集成式Mach-Zehnder干涉仪、迈克尔逊(Michelson)干涉仪或它们的组合来实现双光束干涉效应。
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公开(公告)号：CN102322955A
公开(公告)日：2012-01-18
申请号：CN201110247333.0
申请日：2008-08-13
Applicant: JDS尤尼弗思公司
Inventor： 道格拉斯·E.·克拉夫茨 , 沈锦熙 , 飞利浦·达根 , 詹姆士·F.·法雷尔 , 巴特勒米·方达 , 埃里塞欧·兰奈利
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/18 , G02B6/12019
Abstract: 本发明涉及一种具有探测器阵列的扫描光学光谱仪，其中利用微机电(MEMS)可倾斜微镜扫描在诸如具有平板波导输入的阵列波导光栅(AWG)的色散元件的输入端的光的聚焦光斑的位置，以便在耦合到AWG的探测器阵列上扫描光的色散光谱。用处理器单元连接单个探测器记录的亚光谱以获得输入光的光谱。
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公开(公告)号：CN101368848A
公开(公告)日：2009-02-18
申请号：CN200810147388.2
申请日：2008-08-13
Applicant: JDS尤尼弗思公司
Inventor： 道格拉斯·E.·克拉夫茨 , 沈锦熙 , 飞利浦·达根 , 詹姆士·F.·法雷尔 , 巴特勒米·方达 , 埃里塞欧·兰奈利
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/18 , G02B6/12019
Abstract: 本发明涉及一种具有探测器阵列的扫描光学光谱仪，其中利用微机电(MEMS)可倾斜微镜扫描在诸如具有平板波导输入的阵列波导光栅(AWG)的色散元件的输入端的光的聚焦光斑的位置，以便在耦合到AWG的探测器阵列上扫描光的色散光谱。用处理器单元连接单个探测器记录的亚光谱以获得输入光的光谱。
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