光学特性測定装置および該方法
    2.
    发明专利
    光学特性測定装置および該方法 有权
    光学特性测量装置和方法

    公开(公告)号:JP2015052616A

    公开(公告)日:2015-03-19

    申请号:JP2014231672

    申请日:2014-11-14

    Inventor: YAMAMOTO SHINJI

    Abstract: 【課題】任意の環境光の下での色彩値を、1台で容易に求めることができる光学特性測定装置および方法を提供する。【解決手段】光学特性測定装置1および光学特性測定方法は、被測定物の例えば色彩値や全分光放射率係数等の所定の光学特性を求める光学特性測定装置および該方法であって、該光学特性の測定に先立って、測定開口31から入射する所定の環境光の分光強度分布が測定されて記憶され、そして、該光学特性の測定の際に、この記憶された環境光の分光強度分布を用いて、この実測した環境光を観察光源とした場合の光学特性が求められる。【選択図】図1

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种光学特性测量装置和光学特性测量方法,其能够通过单个装置容易地在任意环境光下获得颜色值。解决方案:光学特性测量装置1和光学特性测量方法获得 预定的光学特性,例如测量对象的颜色值,总光谱发射率系数等。 在测量光学特性之前,测量并存储从测量开口31入射的预定环境光的光谱强度分布,然后在光学特性的测量中,使用存储的环境光的光谱强度分布,获得光学特性 与实际测量的环境光与观察光源。

Patent Agency Ranking