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公开(公告)号:DE112016000449T5
公开(公告)日:2017-11-23
申请号:DE112016000449
申请日:2016-01-22
Applicant: LG ELECTRONICS INC
Inventor: KIM DONKYU , KO HYUNSOO , LEE KILBOM , CHOI KUKHEON , NOH KWANGSEOK , LEE SANGRIM
Abstract: Ein Verfahren zum Schätzen eines nichtlinearen Selbstinterferenz-Signalkanals durch eine Vorrichtung unter Verwendung eines FDR-Schemas umfasst einen Schritt eines Schätzens des nichtlinearen Selbstinterferenz-Signalkanals unter Verwendung eines ersten Sequenzsatzes, der in einer vordefinierten ersten Sequenzgruppe enthalten ist, wobei die vordefinierte erste Sequenzgruppe unter Berücksichtigung nichtlinearer Selbstinterferenz-Signalkomponenten in einer RF-Übertragungskette und einer RF-Empfangskette der Vorrichtung definiert ist.