公开(公告)号：CN100381880C

公开(公告)日：2008-04-16

申请号：CN200310103880.7

申请日：2003-11-18

Applicant: LG.菲利浦LCD株式会社

Inventor： 秋宪铨 ,  金德铉 ,  沈和燮 ,  林种高

IPC: G02F1/133 ,  B23Q17/24 ,  B23Q17/20 ,  B24B9/00 ,  B24B9/10

CPC classification number: B24B9/10 ,  B24B49/02 ,  B24B49/12 ,  G02F1/133351

Abstract: 一种用来测量液晶显示面板研磨量的设备包括一用来研磨单元液晶显示面板上、下边缘部分的研磨单元，一用来产生单元液晶显示面板的上边缘部分研磨面图像的第一成像系统，以及一用来产生单元液晶显示面板的下边缘部分研磨面图像的第二成像系统，其中该单元液晶显示面板的上边缘部分比该单元液晶显示面板的下边缘部分研磨得更多。

公开(公告)号：CN1508593A

公开(公告)日：2004-06-30

申请号：CN200310103880.7

申请日：2003-11-18

Applicant: LG.菲利浦LCD株式会社

Inventor： 秋宪铨 ,  金德铉 ,  沈和燮 ,  林种高

IPC: G02F1/133

CPC classification number: B24B9/10 ,  B24B49/02 ,  B24B49/12 ,  G02F1/133351

Abstract: 一种用来测量液晶显示面板研磨量的设备包括一用来研磨单元液晶显示面板上、下边缘部分的研磨单元，一用来产生单元液晶显示面板的上边缘部分研磨面图像的第一成像系统，以及一用来产生单元液晶显示面板的下边缘部分研磨面图像的第二成像系统。