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公开(公告)号:CN101384888A
公开(公告)日:2009-03-11
申请号:CN200780005898.X
申请日:2007-02-15
Applicant: ONERA(法国宇航院)
CPC classification number: G01J9/02 , G01J2009/0226
Abstract: 本发明与波前分析方法有关,该方法涉及采用频差的多侧干涉测量法。根据本发明,在待分析的光束的路径上放置具有二维网格的衍射光栅(GR)并且处理至少两种不同颜色的至少两个干涉图,每个干涉图是在一平面(PS)中从两个具有不同衍射级的子光束(R1,R2)获得的。本发明可用于分析和校正错位波前(S)。
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公开(公告)号:CN101384888B
公开(公告)日:2012-10-03
申请号:CN200780005898.X
申请日:2007-02-15
Applicant: ONERA(法国宇航院)
CPC classification number: G01J9/02 , G01J2009/0226
Abstract: 本发明与波前分析方法有关,该方法涉及采用频差的多侧干涉测量法。根据本发明,在待分析的光束的路径上放置具有二维网格的衍射光栅(GR)并且处理至少两种不同颜色的至少两个干涉图,每个干涉图是在一平面(Ps)中从两个具有不同衍射级的子光束(R1,R2)获得的。本发明可用于分析和校正错位波前(S)。
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