ESCANER LÁSER QUE RECHAZA LA REFLEXIÓN.

    公开(公告)号:MX386786B

    公开(公告)日:2025-03-19

    申请号:MX2020011540

    申请日:2020-10-29

    Abstract: Algunas modalidades descritas en la presente relacionadas con los sistemas y métodos ópticos para determinar la forma y/o tamaño de los objetos que incluyen proyectar un patrón de luz en el objeto. El patrón de luz puede configurarse de manera que las reflexiones de primer orden pueden distinguirse de la segunda reflexión y/o las reflexiones de mayor orden, las cuales pueden rechazarse. Por consiguiente, incluso en casos en los que el patrón de luz se refleja en el objeto múltiples veces, puede detectarse, distinguirse y/o usarse la reflexión original o de primer orden para la triangulación láser. En algunas modalidades, se proyecta un patrón de luz que no tiene reflexión y/o simetría rotacional en el objeto, de manera que las reflexiones de segundo orden y/o de orden mayor pueden distinguirse desde la reflexión de primer orden.

    REFLECTION REFUTING LASER SCANNER

    公开(公告)号:CA3098890A1

    公开(公告)日:2019-11-07

    申请号:CA3098890

    申请日:2019-04-29

    Abstract: Some embodiments described herein relate to optical systems and methods for determining the shape and/or size of objects that include projecting a pattern of light onto the object. The pattern of light can be configured such that first-order reflections can be distinguished from second- and/or higher-order reflections, which can be rejected. Thus, even in instances in which the pattern of light is reflected onto the object multiple times, the original, or first-order, reflection can be detected, distinguished, and/or used for laser triangulation. In some embodiments, a pattern of light that does not have reflection and/or rotational symmetry is projected onto the object, such that second-order and/or higher-order reflections can be distinguished from the first-order reflection.

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