Verfahren zum Bestrahlen von strangförmigem Bestrahlgut sowie Bestrahlungsvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens

    公开(公告)号:DE19842477B4

    公开(公告)日:2013-12-24

    申请号:DE19842477

    申请日:1998-09-11

    Abstract: Verfahren zum Bestrahlen von strangförmigem Bestrahlgut (19; 19a–e), mit quer zur Längsachse des Bestrahlgutes (19; 19a–e) auftreffenden Elektronenstrahlen (18), welche das Bestrahlgut (19; 19a–e) aus zwei festen, zueinander in einem von Null verschiedenen Winkel stehenden Bestrahlungsrichtungen (R1, R2) treffen, dadurch gekennzeichnet, dass aus einem Elektronenstrahl (11) in einem Scanner (12) mittels einer Scaneinrichtung (13) ein gescannter Elektronenstrahl (17) erzeugt wird, welcher durch zeitlich gesteuertes Hin- und Herschwenken in einem vorgegebenen Winkelbereich quer zur Längsrichtung des Bestrahlgutes (19; 19a–e) einen Strahlenfächer erzeugt, und dass der gescannte Elektronenstrahl (17) durch einen zwischen der Scaneinrichtung (13) und dem Bestrahlgut (19; 19a–e) angeordneten Ablenkmagneten (16, 16') für jeden Scanwinkel des Strahlungsfeldes so abgelenkt wird, dass er aus einer der beiden festen Bestrahlungsrichtungen (R1, R2) auf das zu bestrahlende Bestrahlgut (19; 19a–e) trifft.

    Verfahren zum Bestrahlen von strangförmigem Bestrahlgut sowie Bestrahlungsvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens

    公开(公告)号:DE19842477B9

    公开(公告)日:2014-02-13

    申请号:DE19842477

    申请日:1998-09-11

    Abstract: Verfahren zum Bestrahlen von strangförmigem Bestrahlgut (19; 19a–e), mit quer zur Längsachse des Bestrahlgutes (19; 19a–e) auftreffenden Elektronenstrahlen (18), welche das Bestrahlgut (19; 19a–e) aus zwei festen, zueinander in einem von Null verschiedenen Winkel stehenden Bestrahlungsrichtungen (R1, R2) treffen, dadurch gekennzeichnet, dass aus einem Elektronenstrahl (11) in einem Scanner (12) mittels einer Scaneinrichtung (13) ein gescannter Elektronenstrahl (17) erzeugt wird, welcher durch zeitlich gesteuertes Hin- und Herschwenken in einem vorgegebenen Winkelbereich quer zur Längsrichtung des Bestrahlgutes (19; 19a–e) einen Strahlenfächer erzeugt, und dass der gescannte Elektronenstrahl (17) durch einen zwischen der Scaneinrichtung (13) und dem Bestrahlgut (19; 19a–e) angeordneten Ablenkmagneten (16, 16') für jeden Scanwinkel des Strahlungsfeldes so abgelenkt wird, dass er aus einer der beiden festen Bestrahlungsrichtungen (R1, R2) auf das zu bestrahlende Bestrahlgut (19; 19a–e) trifft.

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