PROCEDE ET DISPOSITIF DE SURVEILLANCE D'UN CHEMIN CRITIQUE D'UN CIRCUIT INTEGRE

    公开(公告)号:FR3050341B1

    公开(公告)日:2018-05-11

    申请号:FR1653409

    申请日:2016-04-18

    Inventor: CLERC SYLVAIN

    Abstract: Le dispositif (DIS) de surveillance d'un chemin critique (CC) d'un circuit intégré (CIN), comprend une réplique du chemin critique (RCC) comportant au moins deux éléments séquentiels (ES1, ES2) mutuellement séparés par des moyens de retard programmables (MRP) à l'aide d'au moins un multiplexeur principal (MUXP1), des moyens de commande (MC) configurés pour commander ledit au moins un multiplexeur principal (MUXP1 à MUXP4) et un module de séquencement (MS) configuré pour séquencer chaque élément séquentiel (ES1, ES2) à partir d'un signal d'horloge principal (CLK). Le module de séquencement (MS) est configuré pour délivrer à partir du signal d'horloge principal (CLK) respectivement auxdits au moins deux éléments séquentiels (ES1, ES2), deux signaux d'horloge secondaires (SHS1, SHS2) mutuellement temporellement décalés de façon à prendre en compte au moins un temps de propagation inhérent audit au moins un multiplexeur principal (MUXP1 à MUXP4).

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