公开(公告)号：FR2990313A1

公开(公告)日：2013-11-08

申请号：FR1254167

申请日：2012-05-07

Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2

Inventor： NAUDET HERVE

IPC: H03M1/10

Abstract: L'invention est relative à un procédé de test d'un convertisseur analogique-numérique (ADC) comprenant les étapes consistant à appliquer des rampes (Va) à l'entrée du convertisseur, et à classer les codes numériques (Vd) produits par le convertisseur selon un histogramme (H). Le convertisseur est déclaré opérationnel dès que toutes les classes (FF) de l'histogramme ont atteint un compte minimal. Le compte minimal peut valoir 1 en pratique. Le convertisseur est déclaré défaillant (FAIL) si une classe n'atteint pas le compte minimal avant l'expiration d'un intervalle de temps (TMOUT).