公开(公告)号：FR2978244A1

公开(公告)日：2013-01-25

申请号：FR1156607

申请日：2011-07-21

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： CASTELLAN JULIA ,  BOIVIN PHILIPPE

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/02

Abstract: Procédé de mesure d'un rayonnement de photons énergétiques, comme des ultraviolets, sur une certaine surface, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes suivantes : - Programmation d'au moins un transistor, consistant à lui transmettre une charge électrique ; - Mesure d'une grandeur électrique du au moins un transistor recevant un rayonnement de photons énergétiques ; - Estimation à partir de cette grandeur électrique mesurée de la quantité de rayonnement reçue.

公开(公告)号：FR2960992A1

公开(公告)日：2011-12-09

申请号：FR1054304

申请日：2010-06-02

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： CASTELLAN JULIA

IPC: G06F17/50

Abstract: L'invention concerne un procédé de conception de masques adaptés à la formation de circuits intégrés, comprenant les étapes suivantes : (a) former (30) un premier fichier de test comprenant un ensemble de configurations d'éléments de circuits intégrés ; (b) former (36) un second fichier de test comprenant les éléments du premier fichier de test auquel on retire (32) les éléments correspondant à des configurations interdites par des bibliothèques de règles de conception (34) ; (c) transformer (38) le second fichier de test à l'aide d'un ensemble d'opérations logiques (40) mises en oeuvre par un moyen de calcul pour obtenir (42) un fichier de masques; (d) réaliser (44) un test du fichier de masques et, si le test est négatif, modifier (46) les bibliothèques de règles de conception ; et (e) réitérer les étapes (a) à (d) jusqu'à ce que le test de l'étape (d) soit positif.

公开(公告)号：FR2960992B1

公开(公告)日：2013-05-10

申请号：FR1054304

申请日：2010-06-02

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： CASTELLAN JULIA

IPC: G06F17/50