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公开(公告)号：FR3055436A1
公开(公告)日：2018-03-02
申请号：FR1657860
申请日：2016-08-23
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor： DIOP IBRAHIMA , LIARDET PIERRE YVAN , LINGE YANIS
Abstract: L'invention concerne un procédé de protection d'un calcul modulaire sur un premier nombre (M) et un deuxième nombre (d'), exécuté par un circuit électronique (1), comportant les étapes suivantes : combiner le deuxième nombre (d') à un troisième nombre (r) pour obtenir un quatrième nombre (d") ; exécuter le calcul modulaire sur les premier et troisième nombres, le résultat étant contenu dans un premier registre ou emplacement mémoire (TO) ; initialiser un deuxième registre ou emplacement mémoire (RC) à la valeur du premier registre ou à l'unité ; et successivement, pour chaque bit (ri) à l'état 1 du troisième nombre : si le bit correspondant (d"i) du quatrième nombre est à l'état 1, le contenu du deuxième registre ou emplacement mémoire est multiplié (310') par l'inverse du premier nombre et le résultat est placé dans le premier registre ou emplacement mémoire, si le bit correspondant du quatrième nombre est à l'état 0, le contenu du deuxième registre ou emplacement mémoire est multiplié (310) par le premier nombre et le résultat est placé dans le premier registre ou emplacement mémoire.
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公开(公告)号：FR2929440A1
公开(公告)日：2009-10-02
申请号：FR0852113
申请日：2008-03-31
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor： LIARDET PIERRE YVAN , TEGLIA YANNICK
Abstract: L'invention concerne un procédé et circuit de mise à jour d'une information (COUNT) représentative de la valeur d'un compteur dans une mémoire non-volatile reprogrammable, dans lesquels à chaque apparition d'un événement (EVENT) requérant l'incrément, respectivement le décrément, de la valeur du compteur : un premier nombre (r) est sélectionné aléatoirement dans une première plage de valeurs entre une première valeur (0) et une deuxième valeur (k-1) ; ce premier nombre est comparé à un deuxième nombre (0) compris dans la première plage de valeurs ; et ladite information est mise à jour, uniquement en cas d'identité entre les premier et deuxième nombres.
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公开(公告)号：FR3055437A1
公开(公告)日：2018-03-02
申请号：FR1657861
申请日：2016-08-23
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor： DIOP IBRAHIMA , LINGE YANIS , LIARDET PIERRE YVAN
Abstract: L'invention concerne un procédé de protection d'un calcul d'exponentiation modulaire sur un premier nombre (M) et un exposant (d), modulo un premier modulo (N), exécuté par un circuit électronique (1) utilisant un premier registre ou emplacement mémoire (T0) et un deuxième registre ou emplacement mémoire (T1), comportant successivement, pour chaque bit de l'exposant (d) : un tirage d'un nombre aléatoire (ri) ; une multiplication modulaire (36, 36') du contenu du premier registre ou emplacement mémoire par celui du deuxième registre ou emplacement mémoire, en plaçant le résultat dans l'un des premier et deuxième registres ou emplacements mémoire choisi en fonction de l'état du bit de l'exposant ; un carré modulaire (37, 37') du contenu de l'un des premier et deuxième registres ou emplacements mémoire choisi en fonction de l'état de l'exposant, en plaçant le résultat dans ce registre ou emplacement mémoire choisi, les opérations de multiplication et de carré étant effectuées modulo le produit du premier modulo par ledit nombre aléatoire.
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公开(公告)号：FR2946207A1
公开(公告)日：2010-12-03
申请号：FR0953523
申请日：2009-05-28
Applicant: PROTON WORLD INTERNAT NV , ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor： DAEMEN JOAN , CUYPERS FRANCK , VAN ASSCHE GILLES , LIARDET PIERRE YVAN
Abstract: L'invention concerne un procédé de protection d'une génération, par un circuit électronique, d'au moins un nombre premier (p) en testant le caractère premier de nombres candidats (a) successifs, comportant : pour chaque nombre candidat : le calcul (41, 46) d'un nombre témoin (w) faisant intervenir au moins un premier nombre aléatoire (r ), et au moins un test de primalité (38) basé sur des calculs d'exponentiation modulaire ; et pour un nombre candidat ayant satisfait audit test de primalité : un test de cohérence (44) entre le nombre candidat et son nombre témoin.
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公开(公告)号：FR2931326A1
公开(公告)日：2009-11-20
申请号：FR0853198
申请日：2008-05-16
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor： LIARDET PIERRE YVAN , TEGLIA YANNICK
IPC: H04L9/28
Abstract: L'invention concerne un procédé de vérification d'intégrité d'une clé (K) mise en oeuvre dans un algorithme symétrique (A) de chiffrement ou de déchiffrement, comportant les étapes de complémenter à un au moins la clé ; et vérifier la cohérence entre deux exécutions de l'algorithme, respectivement avec la clé (K) et avec la clé complémentée à un (K'). L'invention concerne également un circuit électronique correspondant.
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