公开(公告)号：FR2968488B1

公开(公告)日：2012-12-21

申请号：FR1004670

申请日：2010-12-01

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： BEYLY LAURENT ,  TROISE CYRIL ,  TEISSIER MAXIME

IPC: H03K17/955 ,  G01D5/24 ,  G06F3/044 ,  H03K17/96

公开(公告)号：FR2968487B1

公开(公告)日：2012-12-21

申请号：FR1004669

申请日：2010-12-01

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： BEYLY LAURENT ,  TROISE CYRIL ,  TEISSIER MAXIME

IPC: H03K17/955 ,  G01D5/24 ,  G06F3/044 ,  H03K17/96

公开(公告)号：FR2963682B1

公开(公告)日：2012-09-21

申请号：FR1003270

申请日：2010-08-04

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： TEISSIER MAXIME ,  TROISE CYRIL

IPC: G01V3/00 ,  G01D5/24

公开(公告)号：FR2968421A1

公开(公告)日：2012-06-08

申请号：FR1004665

申请日：2010-12-01

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： BEYLY LAURENT ,  TROISE CYRIL ,  TEISSIER MAXIME

IPC: G06F3/044 ,  G01D5/24 ,  H03K17/955

Abstract: L'invention concerne un procédé de commande d'une surface tactile, comprenant un mode de localisation d'un objet sur la surface tactile comportant des étapes consistant à : déterminer une mesure de capacité (Cij) de chacune des paires d'électrodes (Ti, Rj) de la surface tactile (TS), chaque paire comprenant une électrode en ligne (Rj) et une électrode en colonne (Ti) transversale à l'électrode en ligne, comparer chaque mesure à un premier seuil de détection, et si la comparaison d'au moins une mesure avec le premier seuil révèle la présence d'un objet sur la surface tactile, localiser l'objet sur la surface tactile en fonction des mesures de capacité, le procédé comprenant un mode de détection de proximité comportant des étapes consistant à : déterminer une mesure représentative de la capacité entre une ou deux électrodes et une ou deux autres électrodes de la surface tactile, et comparer une mesure obtenue à un second seuil de détection distinct du premier seuil.

公开(公告)号：FR2968487A1

公开(公告)日：2012-06-08

申请号：FR1004669

申请日：2010-12-01

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： BEYLY LAURENT ,  TROISE CYRIL ,  TEISSIER MAXIME

IPC: H03K17/955 ,  G01D5/24 ,  G06F3/044 ,  H03K17/96

Abstract: L'invention concerne un procédé de détection d'un objet à proximité d'un système électronique, comprenant des étapes consistant à : former des électrodes (EV1 EV2, EH1 EH2) autour d'une zone de détection (1), sur un support électriquement isolant, déterminer des mesures représentatives de capacité des électrodes, et comparer les mesures à un seuil de détection, et en déduire si un objet est présent à proximité de la zone de détection dans un champ de détection (FLD), le support électriquement isolant sur lequel sont formées les électrodes étant déposé sur un support électriquement conducteur formant un blindage, les mesures de capacité étant effectuées en activant simultanément toutes les électrodes.

公开(公告)号：FR2968421B1

公开(公告)日：2013-04-05

申请号：FR1004665

申请日：2010-12-01

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： BEYLY LAURENT ,  TROISE CYRIL ,  TEISSIER MAXIME

IPC: G06F3/044 ,  G01D5/24 ,  H03K17/955

公开(公告)号：FR2968488A1

公开(公告)日：2012-06-08

申请号：FR1004670

申请日：2010-12-01

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： BEYLY LAURENT ,  TROISE CYRIL ,  TEISSIER MAXIME

IPC: H03K17/955 ,  G01D5/24 ,  G06F3/044 ,  H03K17/96

Abstract: L'invention concerne un procédé de mesure d'une capacité d'une paire d'électrodes (Ti, Rj), le procédé comprenant plusieurs cycles de charge de la paire d'électrodes et de transfert de charge entre la paire d'électrodes et un condensateur d'échantillonnage (Cs), et une étape de mesure représentative de la capacité de la paire d'électrodes en fonction de la tension aux bornes du condensateur d'échantillonnage en fonction du nombre de cycles exécutés pour que la tension aux bornes du condensateur d'échantillonnage atteigne une tension de seuil. Selon l'invention, le procédé comprend une étape initiale de charge du condensateur d'échantillonnage (Cs) entre une première tension (Vh) et une seconde tension (Vrf) intermédiaire entre la première tension et une troisième tension supérieure ou égale à une tension de masse, la charge de la paire d'électrodes étant effectuée entre la seconde tension et la troisième tension. L'invention s'applique notamment à la commande d'une surface tactile.

公开(公告)号：FR2963682A1

公开(公告)日：2012-02-10

申请号：FR1003270

申请日：2010-08-04

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： TEISSIER MAXIME ,  TROISE CYRIL

IPC: G01V3/00 ,  G01D5/24

Abstract: L'invention concerne un procédé de détection d'objet au moyen d'un signal de détection (Sd) fourni par un capteur (10) de proximité. Le procédé comprend des étapes consistant à générer un signal de référence (Sr) par filtrage de la valeur du signal de détection (Sd) définir un premier seuil de détection (Th1), et passer d'un état de non-détection d'objet (NDET) à un état de détection d'objet (DET) lorsque la valeur du signal de détection devient supérieure au premier seuil de détection (Th1). Lorsque la valeur du signal de détection devient supérieure au premier seuil de détection (Th1) la valeur du signal de référence (Sr) est réajustée de manière que la valeur du signal de détection (Sd) redevienne inférieure au premier seuil de détection (Th1).