Abstract:
L'invention concerne une puce de circuit intégré comportant au moins une cellule mémoire non-volatile, un transistor MOS et un circuit électrique de rétention de charges pour une mesure temporelle comportant un élément capacitif de stockage de charges et, relié à cet élément, un élément (C3') d'écoulement de charges électriques comportant, sur un support isolant (23), un empilement d'une première électrode (18'), d'une couche diélectrique (ONO, GO1) dont au moins une portion (29) est adaptée à laisser circuler des charges par effet tunnel, et d'une seconde électrode (17), dans lequel au moins une des électrodes (18') est en silicium polycristallin non dopé. La cellule mémoire non-volatile, le transistor MOS et l'élément d'écoulement de charges partagent deux à deux des niveaux de diélectriques et de silicium poly crystallin.