公开(公告)号：FR3047348A1

公开(公告)日：2017-08-04

申请号：FR1650856

申请日：2016-02-03

Applicant: STMICROELECTRONICS (ALPS) SAS

Inventor： BROUTIN MICKAEL ,  LELIEVRE BENOIT ,  ANQUET NICOLAS

IPC: G11C29/12 ,  G01R31/3187

Abstract: L'invention concerne un procédé comprenant, en réponse à l'activation d'au moins un signal de commande (BIST CMD) requérant qu'un circuit de test (204) d'une matrice mémoire (202) déclenche un mode de test de la mémoire permettant la lecture d'au moins une partie de la matrice mémoire, le lancement par un circuit de commande de test (208) d'une séquence de sur-écriture pour sur-écrire les données stockées dans la matrice mémoire (202) ; et l'activation, grâce au circuit de commande de test (208), du mode de test de la mémoire une fois que la séquence de sur-écriture est achevée.