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公开(公告)号:FR3040512A1
公开(公告)日:2017-03-03
申请号:FR1557977
申请日:2015-08-27
Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS
Inventor: TEGLIA YANNICK
Abstract: L'invention concerne un procédé de protection d'un calcul d'exponentiation modulaire exécuté par un circuit électronique utilisant un premier registre (RO) et un deuxième registre (R1), comportant successivement, pour chaque bit de l'exposant (e) : une première étape (52, 54) de multiplication du contenu d'un des registres, choisi parmi le premier registre et le deuxième registre en fonction de l'état du bit de l'exposant, par le contenu de l'autre des premier et deuxième registres, en plaçant le résultat dans ledit un des registres ; une deuxième étape (53, 25) d'élévation au carré du contenu dudit autre des registres en plaçant le résultat dans cet autre registre, dans lequel le contenu dudit autre des registres est stocké dans un troisième registre (T) avant la première étape et est restitué dans ledit autre des registres avant la deuxième étape.
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公开(公告)号:FR3040511A1
公开(公告)日:2017-03-03
申请号:FR1557976
申请日:2015-08-27
Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS
Inventor: TEGLIA YANNICK
Abstract: L'invention concerne un procédé de vérification de la sensibilité d'un circuit électronique (1) exécutant un calcul d'une exponentiation modulaire dans un premier registre (RO) et un deuxième registre (R1), comportant successivement, pour chaque bit de l'exposant (e) : une première étape (52, 54) de multiplication du contenu d'un des registres choisi, parmi le premier registre et le deuxième registre en fonction de l'état du bit de l'exposant, par le contenu de l'autre des premier et deuxième registres, en plaçant le résultat dans ledit un des registres ; et une deuxième étape (53, 25) d'élévation au carré du contenu dudit autre des registres en plaçant le résultat dans cet autre registre, dans lequel le contenu de celui des premier et deuxième registres qui contient le multiplicateur de l'opération de la première étape est perturbé, pour chaque bit de l'exposant, pendant l'exécution de la première étape.
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公开(公告)号:FR3040512B1
公开(公告)日:2017-09-08
申请号:FR1557977
申请日:2015-08-27
Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS
Inventor: TEGLIA YANNICK
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公开(公告)号:FR3022056B1
公开(公告)日:2017-09-01
申请号:FR1455258
申请日:2014-06-10
Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS
Inventor: TEGLIA YANNICK
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公开(公告)号:FR3007552B1
公开(公告)日:2016-10-28
申请号:FR1355992
申请日:2013-06-24
Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS
Inventor: GUILLEMIN PIERRE , TEGLIA YANNICK
IPC: G06F21/71
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公开(公告)号:FR3022057B1
公开(公告)日:2016-05-27
申请号:FR1455257
申请日:2014-06-10
Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS
Inventor: TEGLIA YANNICK
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公开(公告)号:FR3040511B1
公开(公告)日:2017-09-08
申请号:FR1557976
申请日:2015-08-27
Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS
Inventor: TEGLIA YANNICK
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公开(公告)号:FR3010210B1
公开(公告)日:2017-01-13
申请号:FR1358271
申请日:2013-08-29
Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS
Inventor: TEGLIA YANNICK
IPC: G06F21/75
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