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1.发明专利
公开(公告)号：FR2929408A1
公开(公告)日：2009-10-02
申请号：FR0852085
申请日：2008-03-31
Applicant: STMICROELECTRONICS TOURS SAS S
Inventor： BENABDELAZIZ GHAFOUR , PAILLET PASCAL
IPC: G01R31/02
Abstract: L'invention concerne un procédé de détection de l'état d'au moins un élément d'un circuit comprenant une ou plusieurs charges (Q), alimentées par une tension alternative (Vac) et en série avec au moins un premier commutateur (T). L'état de l'élément est obtenu en analysant, à plusieurs instants par période de la tension alternative, l'amplitude d'un courant (Iin) prélevé au point d'interconnexion entre la charge et le premier commutateur.
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