SUPPORT D'ECHANTILLON, PROCEDE ET SYSTEME D'IMAGERIE PAR FONCTIONNALISATION DU SUBSTRAT

    公开(公告)号:FR2951271A1

    公开(公告)日:2011-04-15

    申请号:FR0904912

    申请日:2009-10-13

    Abstract: La présente invention concerne un système d'imagerie pour l'analyse de particules fluorescentes dans un échantillon (2), comprenant un dispositif de microscopie confocale (1) comportant un support (3) en contact avec au moins une partie dudit échantillon (2). Dans ce système, la surface du support (3) en contact avec l'échantillon (2) est fonctionnalisée de manière à réduire axialement le volume d'observation (6) des particules au niveau de la surface. La présente invention concerne également différentes utilisations d'un tel système, un support d'échantillon destiné à équiper un tel système, ainsi qu'un procédé d'analyse de particules fluorescentes dans un échantillon mis en oeuvre par un tel système.

Patent Agency Ranking