公开(公告)号：FR2901628A1

公开(公告)日：2007-11-30

申请号：FR0604666

申请日：2006-05-24

Applicant: XENOCS SOC PAR ACTIONS SIMPLIF

Inventor： HOGHOJ PETER ,  RODRIGUES SERGIO

IPC: G21K1/06 ,  G02B5/08

Abstract: L'invention concerne un ensemble optique comprenant un empilement d'une pluralité de coques réflectives (10;20), chaque coque réflective comprenant un substrat (11) ayant une face arrière (111) comprenant une pluralité de nervures (111) formant entretoise et une face avant (112), et un revêtement réflecteur (12) pour rayons X déposé sur la face avant (112) du substrat (11), caractérisé en ce que chaque coque réflective (10) comprend en outre une couche d'adhésion (13) déposée sur le revêtement réflecteur (12), la couche d'adhésion (13) étant une couche mince formée dans un matériau inorganique permettant une adhésion moléculaire avec la face arrière du substrat (21) de la coque réflective adjacente (20).L'invention concerne également un procédé de fabrication d'un tel ensemble optique.

公开(公告)号：FR2918501A1

公开(公告)日：2009-01-09

申请号：FR0756227

申请日：2007-07-02

Applicant: XENOCS SOC PAR ACTIONS SIMPLIF

Inventor： HOGHOJ PETER ,  BOULEE PASCAL ,  NTOVA PARASKEVI

IPC: H01J35/02 ,  G01B15/00 ,  G01N23/00 ,  G21K1/00 ,  H01J37/00 ,  H05G1/02

Abstract: La présente invention concerne le domaine de l'instrumentation analytique par rayons X (RX). Elle concerne plus précisément un dispositif de délivrance d'un faisceau de rayons X à haute énergie, typiquement supérieure à 4 keV, pour des applications analytiques par rayons X.

公开(公告)号：FR2904176A1

公开(公告)日：2008-01-25

申请号：FR0606766

申请日：2006-07-24

Applicant: XENOCS SOC PAR ACTIONS SIMPLIF

Inventor： BOULEE PASCAL ,  CENDA DAN MIHAI ,  HOGHOJ PETER

IPC: H05G1/02

Abstract: L'invention concerne un système 1 de délivrance de faisceau de rayons X comprenant un bloc source 100 émettant un faisceau source de rayons X, des moyens de conditionnement 500 permettant de conditionner le faisceau source en direction d'un échantillon. Le système 1 comporte des moyens de stabilisation 800 agencés de manière à stabiliser thermiquement une zone du système 1 située en aval du bloc source 100, en vue de prévenir des perturbations thermiques au niveau des moyens de conditionnement 500.

公开(公告)号：FR2918501B1

公开(公告)日：2009-11-06

申请号：FR0756227

申请日：2007-07-02

Applicant: XENOCS SOC PAR ACTIONS SIMPLIF

Inventor： HOGHOJ PETER ,  BOULEE PASCAL ,  NTOVA PARASKEVI

IPC: H01J35/02 ,  G01B15/00 ,  G01N23/00 ,  G21K1/00 ,  H01J37/00 ,  H05G1/02

Abstract: The invention relates to X-ray analytical instruments (RX), more precisely a device for providing a high energy X-ray beam, typically above 4 keV, for X-ray analysis applications. The device comprises an X-ray tube with a turning anode and an X-ray lens for shaping the beam.

公开(公告)号：FR2901628B1

公开(公告)日：2008-08-22

申请号：FR0604666

申请日：2006-05-24

Applicant: XENOCS SOC PAR ACTIONS SIMPLIF

Inventor： HOGHOJ PETER ,  RODRIGUES SERGIO

IPC: G21K1/06 ,  G02B5/08