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发明公开
检测器波长校准审中-实审

公开(公告)号：CN114829891A

公开(公告)日：2022-07-29

申请号：CN202080087044.6

申请日：2020-12-09

Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司

Inventor： J.米格尔萨恩切斯 , 石崎幸太郎 , P.伦琴 , F.P.达莱奥

IPC: G01J3/02 , G01J3/10 , G01J3/26 , G01J3/28

Abstract: 一种在光学组件的操作波长范围内校准该组件的驱动参数的方法。该方法包括将材料层放置在光路中，该材料层基本上是平面的和基本上是透明的，并且具有在所述范围内的波长量级的厚度，以及操作所述组件以改变所述驱动参数，同时检测透射通过所述材料层的光，以获得驱动参数与光强度数据。然后将所获得的数据与先前针对所述材料层导出的表征数据进行比较，以便校准所述驱动参数。

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