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公开(公告)号:CN102141507A
公开(公告)日:2011-08-03
申请号:CN201010107047.X
申请日:2010-01-29
Applicant: 北京普析通用仪器有限责任公司
IPC: G01N21/01
CPC classification number: G01J3/04 , G01J1/04 , G01J1/0462
Abstract: 本发明提供了一种连续可变狭缝机构的安装调试方法,包括如下步骤:在第一、二滑杆上分别安装第一、二左缝片和第一、右缝片,并拼到零缝隙;安装两只用来测量第一、二滑杆水平移动距离a1,a2的位移测量仪;用下式计算修正值e′:再用公式:可计算出:则控制步进电机走n′步,所得到的狭缝Tr′的误差可控制在±0.002mm。普通精度等级的连续可变狭缝机构使用本发明的方法调试后能达到很高的精度。
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公开(公告)号:CN104508438B
公开(公告)日:2016-07-13
申请号:CN201380039851.0
申请日:2013-09-05
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01J1/06 , G01J1/02 , G01J3/18 , G01N21/17 , G01W1/12 , G01W1/14 , G01C1/00 , G02B5/20 , H01L27/14 , H01L31/10 , H01L31/12
CPC classification number: H01L31/02327 , B60S1/0833 , G01J1/0209 , G01J1/0271 , G01J1/0407 , G01J1/0437 , G01J1/0462 , G01J1/0488 , G01J1/06 , G01J1/4228 , G01N21/552 , G01W1/12 , G01W1/14 , G02B5/201 , H01L31/02161 , H01L31/02162 , H01L31/02325 , H01L31/09 , H01L31/101 , H01L31/103 , H01L31/12
Abstract: 光传感器(100)具有受光部(10)、限定部(30)和选定部(50)。限定部(30)限定朝受光部(10)入射的入射光的入射角度。选定部(50)选定朝受光部(10)入射的入射光的波长。限定部(30)具备设置于受光部(10)的上方的遮光膜(32),且具有形成于遮光膜(32)的开口部(33)。选定部(50)具有设置在由开口部(33)围成的区域内的、且形成于遮光膜(32)的狭缝(51)。
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公开(公告)号:CN1869596A
公开(公告)日:2006-11-29
申请号:CN200610078446.1
申请日:2006-05-26
Applicant: 株式会社电装
CPC classification number: G01J1/22 , G01J1/04 , G01J1/0403 , G01J1/0418 , G01J1/0437 , G01J1/044 , G01J1/0448 , G01J1/0462
Abstract: 一种光学传感器包括放置在壳中的光接收器件、可旋转地安置到所述壳的附着表面的外部滤光器、以及随同所述外部滤光器的旋转而一起旋转以调节入射到所述光接收器件的光接收表面上的光的量的光截断部件。在这个光学传感器中,所述光截断部件具有固定在其中心的旋转轴,并且具有用于在绕所述旋转轴的旋转方向上的一范围内调节入射在所述光接收器件的光接收表面上的光的量的光调节机构。因而,可以高精度任意调节所述光学传感器的灵敏度。
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公开(公告)号:CN103383347B
公开(公告)日:2015-09-09
申请号:CN201310279839.9
申请日:2013-07-04
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N21/17
CPC classification number: G01J1/0295 , G01J1/0437 , G01J1/0462 , G01J3/0229 , G01J3/0254 , G01J3/0297
Abstract: 本发明提供了一种非线性误差的绝对测量方法及装置,其中,非线性误差的绝对测量方法包括:将N个拼接在一起的反射板同时放置于光学测量仪器的样品口,其中,各个所述反射板在所述样品口的覆盖面积相同;在所述光学测量仪器的光路中放置光阑;按照所述光学测量仪器需要测量非线性误差的测量量程,调整使用的反射板的个数,并在每次调整后,获取调整后的所述反射板放置于所述样品口时,所述光学测量仪器的输出结果;对所述输出结果进行非线性误差计算处理,获取所述光学测量仪器输出结果的非线性误差。通过本申请,在保证非线性误差测量精度的同时,实现了对光学测量仪器最终输出结果的非线性误差的测量。
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公开(公告)号:CN104288916A
公开(公告)日:2015-01-21
申请号:CN201410337320.6
申请日:2014-07-16
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G21K1/046 , G01J1/0462 , G21K1/04 , H05G1/02
Abstract: 照射野限制装置,与X射线发生装置相连,包括一对第一限制叶片,该第一限制叶片限定了供辐射穿过的开口的宽度;具有第一开口宽度调节轴的第一开口宽度调节机构,该第一开口宽度调节轴可操作以通过使这对第一限制叶片朝向或远离彼此移动来调节开口宽度;和具有第一开口中心调节轴的第一开口中心调节机构,该第一开口中心调节轴可操作以通过沿同一方向移动这对第一限制叶片来调节开口的中心位置;第一开口宽度调节轴和第一开口中心调节轴同轴地布置。还涉及X射线发生装置和X射线放射照相系统。
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公开(公告)号:CN103383347A
公开(公告)日:2013-11-06
申请号:CN201310279839.9
申请日:2013-07-04
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N21/17
CPC classification number: G01J1/0295 , G01J1/0437 , G01J1/0462 , G01J3/0229 , G01J3/0254 , G01J3/0297
Abstract: 本发明提供了一种非线性误差的绝对测量方法及装置,其中,非线性误差的绝对测量方法包括:将N个拼接在一起的反射板同时放置于光学测量仪器的样品口,其中,各个所述反射板在所述样品口的覆盖面积相同;在所述光学测量仪器的光路中放置光阑;按照所述光学测量仪器需要测量非线性误差的测量量程,调整使用的反射板的个数,并在每次调整后,获取调整后的所述反射板放置于所述样品口时,所述光学测量仪器的输出结果;对所述输出结果进行非线性误差计算处理,获取所述光学测量仪器输出结果的非线性误差。通过本申请,在保证非线性误差测量精度的同时,实现了对光学测量仪器最终输出结果的非线性误差的测量。
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公开(公告)号:CN104288916B
公开(公告)日:2017-04-26
申请号:CN201410337320.6
申请日:2014-07-16
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G21K1/046 , G01J1/0462 , G21K1/04 , H05G1/02
Abstract: 照射野限制装置,与X射线发生装置相连,包括一对第一限制叶片,该第一限制叶片限定了供辐射穿过的开口的宽度;具有第一开口宽度调节轴的第一开口宽度调节机构,该第一开口宽度调节轴可操作以通过使这对第一限制叶片朝向或远离彼此移动来调节开口宽度;和具有第一开口中心调节轴的第一开口中心调节机构,该第一开口中心调节轴可操作以通过沿同一方向移动这对第一限制叶片来调节开口的中心位置;第一开口宽度调节轴和第一开口中心调节轴同轴地布置。还涉及X射线发生装置和X射线放射照相系统。
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公开(公告)号:CN104034508B
公开(公告)日:2017-01-11
申请号:CN201410075590.4
申请日:2014-03-04
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G01M11/00 , G01N21/958
CPC classification number: G01N21/94 , G01J1/029 , G01J1/0425 , G01J1/0462 , G01M11/0278 , Y10T29/49004
Abstract: 本发明涉及光学检查设备和光学检查系统。一种通过测量从光学扫描设备发射的扫描光的光量来检查光学扫描设备的光学系统的光学检查设备包括:缝隙板,提供有用于允许一部分扫描光通过的多个缝隙以使得包括扫描有效部;扩散器,扩散已经通过缝隙的扫描光;光导,引导由扩散器扩散的扫描光;光学传感器,测量由光导引导的扫描光的光量;以及检查装置,通过将光学传感器获取的测量结果与预设参考值进行比较来检查光学系统的状态,其中在利用扫描光在缝隙板上执行扫描的方向上间隔地布置缝隙。
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公开(公告)号:CN106255874A
公开(公告)日:2016-12-21
申请号:CN201580022108.3
申请日:2015-04-16
Applicant: 爱色丽有限公司
CPC classification number: G01J3/0289 , G01J1/0425 , G01J1/0462 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/04 , G02B6/42
Abstract: 一种用于分光光度计的瞄准系统包括多个光纤通道,该多个光纤通道包括至少一个测量通道和至少一个照明通道。狭缝组件包括邻近多个光纤通道放置的半透明层和邻近半透明层放置的反射部分。每个光纤通道包括第一端,第一端从狭缝组件的反射部分偏移以使光从一个光纤通道传到邻近的光纤通道。光源与至少一个照明通道进行光通信。样品平面与测量通道的第二端进行光通信。对该系统进行配置以使光从光源起传送、通过至少一个照明通道、经狭缝组件反射、传送通过测量通道、并到样品平面上。
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公开(公告)号:CN105698926A
公开(公告)日:2016-06-22
申请号:CN201511035919.5
申请日:2015-11-25
Applicant: 贺利氏特种光源美国有限责任公司
Inventor: K·A·赫尔姆斯 , T·A·都姆布科夫斯基 , J·R·埃利奥特
IPC: G01J1/42
CPC classification number: G01J1/429 , B05D3/061 , G01J1/0271 , G01J1/0403 , G01J1/0414 , G01J1/0437 , G01J1/0448 , G01J1/0462 , G01J1/42 , G01J2001/4247
Abstract: 一种可调节光探测器装置,可以包括具有底面的基板。光探测器装置可以还包括固定至基板底面的光电池。光探测器装置可以还包括具有固定至基板底面以封闭光电池的顶部的金属块,其中在金属块内形成从金属块的顶部延伸至金属块的底部的开口,以形成用于光传输通过金属块到达光电池的孔。光探测器装置可以还包括可插入金属块中以改变孔的开口区域的构件。
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