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公开(公告)号:CN100459117C
公开(公告)日:2009-02-04
申请号:CN200410098174.2
申请日:2004-08-27
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L23/60
CPC classification number: H01L27/0251
Abstract: 本发明提供了一种具有输入/输出静电释放(I/O ESD)保护单元的集成电路装置。这种集成电路装置包括一种I/O ESD保护单元,其中该I/O ESD保护单元包括连接在I/O衬垫和VDD线之间的VDDESD保护部件、连接在I/O衬垫和Vss线之间的接地电压(Vss)ESD保护部件以及连接在VDD线和Vss线之间的电源箝位部件,并且I/O ESD保护单元中的VDDESD保护部件、电源箝位部件以及Vss ESD保护部件之间相互位置邻近,从而它们能连成一条直线,或部分重叠。
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公开(公告)号:CN1825588A
公开(公告)日:2006-08-30
申请号:CN200610005724.0
申请日:2006-01-06
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H01L27/0262
Abstract: 一种在第一焊盘和第二焊盘之间的静电放电电路,包括:一静电放电电路元件,包括双极晶体管路径和电阻器路径,该静电放电电路元件通过双极晶体管路径和电阻器路径交替地使静电电流放电。本发明还涉及一种使由静电放电事件引起的静电电流耗散的方法。
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公开(公告)号:CN101350348A
公开(公告)日:2009-01-21
申请号:CN200810108758.1
申请日:2006-01-06
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H01L27/0262
Abstract: 一种在第一焊盘和第二焊盘之间的静电放电电路,包括:一静电放电电路元件,包括双极晶体管路径和电阻器路径,该静电放电电路元件通过双极晶体管路径和电阻器路径交替地使静电电流放电。本发明还涉及一种使由静电放电事件引起的静电电流耗散的方法,包括通过双极晶体管路径和电阻器路径交替地使静电电流放电。
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公开(公告)号:CN101350348B
公开(公告)日:2012-02-08
申请号:CN200810108758.1
申请日:2006-01-06
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H01L27/0262
Abstract: 一种在第一焊盘和第二焊盘之间的静电放电电路,包括:一静电放电电路元件,包括双极晶体管路径和电阻器路径,该静电放电电路元件通过双极晶体管路径和电阻器路径交替地使静电电流放电。本发明还涉及一种使由静电放电事件引起的静电电流耗散的方法,包括通过双极晶体管路径和电阻器路径交替地使静电电流放电。
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公开(公告)号:CN1825588B
公开(公告)日:2011-03-30
申请号:CN200610005724.0
申请日:2006-01-06
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H01L27/0262
Abstract: 一种在第一焊盘和第二焊盘之间的静电放电电路,包括:一静电放电电路元件,包括双极晶体管路径和电阻器路径,该静电放电电路元件通过双极晶体管路径和电阻器路径交替地使静电电流放电。本发明还涉及一种使由静电放电事件引起的静电电流耗散的方法。
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公开(公告)号:CN1607664A
公开(公告)日:2005-04-20
申请号:CN200410098174.2
申请日:2004-08-27
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L23/60
CPC classification number: H01L27/0251
Abstract: 本发明提供了一种具有输入/输出静电释放(I/OESD)保护单元的集成电路装置。这种集成电路装置包括一种I/O ESD保护单元,其中该I/O ESD保护单元包括连接在I/O衬垫和VDD线之间的VDDESD保护部件、连接在I/O衬垫和Vss线之间的接地电压(Vss)ESD保护部件以及连接在VDD线和Vss线之间的电源箝位部件,并且I/O ESD保护单元中的VDDESD保护部件、电源箝位部件以及Vss ESD保护部件之间相互位置邻近,从而它们能连成一条直线,或部分重叠。
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