公开(公告)号：CN1162746A

公开(公告)日：1997-10-22

申请号：CN96108037.X

申请日：1996-04-15

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 宫田智之 ,  大谷洋司

IPC: G01R31/08

Abstract: 一种微波探测器，包含可能产生放电的目标装置的壳体1；目标装置2；天线3，用于接收放电产生的微波信号，附着于目标装置壳体1上；信号处理装置4，连接到天线3，放大和检测微波信号，以及放大检测的图像信号；和一输出端13，经其输出图像信号。

公开(公告)号：CN109993878A

公开(公告)日：2019-07-09

申请号：CN201910303591.2

申请日：2017-09-25

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 加贺野未来 ,  荒木宏 ,  庄司俊明 ,  松井秀树 ,  真壁和也 ,  宫田智之 ,  尾込智和

IPC: G07D7/026

Abstract: 静电容量检测装置(20)包括至少一部分夹着搬运路径(5)相对的第一电极(1)和第二电极(2)。振荡电路在第一电极(1)与第二电极(2)之间形成电场。检测电路对第一电极(1)与第二电极(2)之间的静电容量的变化进行检测。在第一基板(11)和第二基板(12)形成有振荡电路和检测电路中的至少一方。第一基板(11)配置成第一基板(11)的侧面在电场方向上与第一电极(1)相对，第二基板(12)配置成第二基板(12)的侧面在电场方向上与第二电极(2)相对。

公开(公告)号：CN107148641A

公开(公告)日：2017-09-08

申请号：CN201580053902.4

申请日：2015-09-30

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 尾込智和 ,  宫田智之

IPC: G07D7/00 ,  G06T1/00 ,  G07D7/04 ,  G07D7/12 ,  G07D7/20 ,  H04N1/04

CPC classification number: H04N1/00339 ,  G07D7/04 ,  G07D7/12 ,  G07D7/121 ,  G07D7/20 ,  H04N1/00588 ,  H04N1/0282 ,  H04N1/04

Abstract: 本发明的图像读取装置包括：磁回路，该磁回路包括磁体(11)和磁轭(12)，该磁体(11)设置于片状的被读取介质(1)沿着其片表面的方向被传送的传送面(P)的一侧且在与传送面(P)正交的方向上具有不同的磁极，该磁轭(12)设置于磁体(11)的传送面(P)一侧的磁极，该磁回路在与传送面(P)正交的方向上产生磁场；磁阻效应元件芯片(14)，该磁阻效应元件芯片(14)设置于磁回路与传送面(P)之间，且当被读取介质(1)沿传送面(P)被传送时，在磁读取区域(202)检测磁场的传送方向分量的强度变化；导光体(4)，该导光体(4)设置于夹着传送面(P)与磁回路相对的一侧，且向传送面(P)的磁读取区域(202)照射光；以及成像光学系统(5)和受光部(7)，该成像光学系统(5)和受光部(7)设置于夹着传送面(P)与磁回路相对的一侧。

公开(公告)号：CN107148641B

公开(公告)日：2021-05-25

申请号：CN201580053902.4

申请日：2015-09-30

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 尾込智和 ,  宫田智之

IPC: G07D7/004 ,  G06T1/00 ,  G07D7/04 ,  G07D7/12 ,  G07D7/20 ,  H04N1/04

Abstract: 本发明的图像读取装置包括：磁回路，该磁回路包括磁体(11)和磁轭(12)，该磁体(11)设置于片状的被读取介质(1)沿着其片表面的方向被传送的传送面(P)的一侧且在与传送面(P)正交的方向上具有不同的磁极，该磁轭(12)设置于磁体(11)的传送面(P)一侧的磁极，该磁回路在与传送面(P)正交的方向上产生磁场；磁阻效应元件芯片(14)，该磁阻效应元件芯片(14)设置于磁回路与传送面(P)之间，且当被读取介质(1)沿传送面(P)被传送时，在磁读取区域(202)检测磁场的传送方向分量的强度变化；导光体(4)，该导光体(4)设置于夹着传送面(P)与磁回路相对的一侧，且向传送面(P)的磁读取区域(202)照射光；以及成像光学系统(5)和受光部(7)，该成像光学系统(5)和受光部(7)设置于夹着传送面(P)与磁回路相对的一侧。

公开(公告)号：CN109716403A

公开(公告)日：2019-05-03

申请号：CN201780057837.1

申请日：2017-09-25

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 加贺野未来 ,  荒木宏 ,  庄司俊明 ,  松井秀树 ,  真壁和也 ,  宫田智之 ,  尾込智和

IPC: G07D7/026 ,  G07D7/121 ,  G07D7/189

Abstract: 静电容量检测装置(20)包括至少一部分夹着搬运路径(5)相对的第一电极(1)和第二电极(2)。振荡电路在第一电极(1)与第二电极(2)之间形成电场。检测电路对第一电极(1)与第二电极(2)之间的静电容量的变化进行检测。在第一基板(11)和第二基板(12)形成有振荡电路和检测电路中的至少一方。第一基板(11)配置成第一基板(11)的侧面在电场方向上与第一电极(1)相对，第二基板(12)配置成第二基板(12)的侧面在电场方向上与第二电极(2)相对。