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公开(公告)号：CN101319884B
公开(公告)日：2010-12-15
申请号：CN200810057900.4
申请日：2008-02-20
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明是基于多光谱靶板及旋转反射镜的多光轴一致性测试仪装置，属于光电领域。本发明由大口径离轴双反准直镜主镜、准直镜次镜、两轴旋转机构、平面反射镜、衰减器、分光镜A、多光谱目标靶板、分光镜B、近红外CCD、光纤耦合器、光纤、多路视频采集装置等组成；平面反射镜经旋转机构带动进行二维旋转；分光镜A的反射光路中放置多光谱目标靶板，分光镜A的透射光路经分光镜B后，透射光进入近红外CCD，同时反射光进入光纤入射端；光纤另一端经光纤耦合器与激光测距机的发射端相连，激光脉冲耦合进入光纤。本发明用于测试复杂光电系统宽光谱范围内的多光轴之间一致性的静态及动态误差，具有精度高和可便携优点。
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公开(公告)号：CN101319884A
公开(公告)日：2008-12-10
申请号：CN200810057900.4
申请日：2008-02-20
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明是基于多光谱靶板及旋转反射镜的多光轴一致性测试仪装置，属于光电领域。本发明由大口径离轴双反准直镜主镜、准直镜次镜、两轴旋转机构、平面反射镜、衰减器、分光镜A、多光谱目标靶板、分光镜B、近红外CCD、光纤耦合器、光纤、多路视频采集装置等组成；平面反射镜经旋转机构带动进行二维旋转；分光镜A的反射光路中放置多光谱目标靶板，分光镜A的透射光路经分光镜B后，透射光进入近红外CCD，同时反射光进入光纤入射端；光纤另一端经光纤耦合器与激光测距机的发射端相连，激光脉冲耦合进入光纤。本发明用于测试复杂光电系统宽光谱范围内的多光轴之间一致性的静态及动态误差，具有精度高和可便携优点。
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公开(公告)号：CN100419399C
公开(公告)日：2008-09-17
申请号：CN200710063161.5
申请日：2007-01-30
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 一种统计调制传递函数的随机图案测量方法，采用功率谱相关性来得到传递函数，采用随机条纹测试靶标，或者其它随机图案靶标，随机图案由计算机随机算法生成，不需要扫描机构和精确对准机构，可以在计算机控制下快速得到离散采样成像系统的统计意义上的调制传递函数特性。利用该方法能非常容易地得到大量随机条纹测试图或者其它类型的测试图，便于进行统计意义上的测试，具有很高的灵活性和可操作性；具有平移不变特性，避免了微米级精密的机械扫描；采用高分辨率液晶作为光学分划图形发生器并应用于光学测量；测试过程简单，对人员的专业技术水平要求不高，利于实现计算机自动化测试。
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公开(公告)号：CN101110970A
公开(公告)日：2008-01-23
申请号：CN200710119819.X
申请日：2007-07-31
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提出了一种CCD摄像机信噪比数字化测试方法。其基本原理是通过摄像机对高均匀照明的净白目标成像，则成像信号中的波动反映了摄像机的噪声。通过图像采集卡将视频信号量化为数字图像，用特别设计的数字高通滤波器分离出噪声信号，计算噪声信号的均方根值作为噪声强度。因图像采集卡对原始视频信号带入了量化噪声，将量化噪声加以修正即可以估计原始视频信号中的噪声大小，从而计算出信噪比。本发明实现了一种基于数字图像采集的电视摄像机信噪比快速、客观测试方法，其测试结果与用视频分析仪测量结果一致性良好，因而可以作为摄像机信噪比测试的一种替代方法。
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公开(公告)号：CN100493207C
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：CN200710064396.6
申请日：2007-03-14
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 一种CCD摄像系统的畸变测量校正方法和综合测试靶，所述综合测试靶由黑白间带和黑白带上的灰色目标点构成。所述的方法包括步骤：依次建立世界坐标系和摄像机坐标系之间、像素坐标系与图像坐标系之间、摄像机坐标系和图像坐标系之间的变换关系；采集畸变图像的成像极坐标；标定理想无畸变的成像极坐标；分别确定理想图像坐标点和畸变图像坐标点的对应关系，建立多项式模型；根据多项式系数测量并校正畸变。本发明的综合测试靶结合考虑了点靶和行靶信息，用测试靶替代传统的三个分立的靶板，解决了目标采样点的位置精度不高和目标采样点与其像点位置对应困难的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101355711A
公开(公告)日：2009-01-28
申请号：CN200810222211.4
申请日：2008-09-11
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种基于三角形方向识别的CCD摄像机分辨率测量装置及方法，属于光电测试领域。该装置包括待测CCD摄像机、分辨率靶板、均匀照明灯箱以及高分辨率监示器。分辨率靶板是采用等边三角形图案代替通常的栅条图案；在测试过程中以识别等边三角形的朝向代替常规的条纹分辨，可以有效避免常规栅条图案分辨率测试中的摩尔条纹影响；将达到75％以上正确判别概率所对应的电视线数确定为该摄像机的极限分辨率。为提高测试精度，对标准栅条间隔作数值内插计算，设计出一种新的电视分辨率靶板，两块靶板配合使用可大大提高测量精度。可应用于对各类可见光CCD摄像机的性能评测。
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公开(公告)号：CN101354308A
公开(公告)日：2009-01-28
申请号：CN200810211257.6
申请日：2008-09-19
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种数字视差测量仪及测量方法。本发明包括光源、物镜、图像采集模块、计算机、机电平移台。光源通过目镜照明被测光学系统的分划板，光线透过望远物镜后进入物镜并在图像采集模块上成像，图像采集模块将所成图像传送给计算机，计算机控制机电平移台实现机电平移，机电平移台向计算机返回机电平移数据；物镜装卡于机电平移台上。本发明还可以包括分光系统，光线通过分光系统进入粗瞄摄像机，将采集到的视频信号传输给监视器，用于测量前的粗瞄对准。本发明用计算机来修正由环境变化引起的测量误差，具有精度高、速度快、客观性好的优点，可用于光学系统的检测与装配过程中的高精度视差测量。
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公开(公告)号：CN101271283A
公开(公告)日：2008-09-24
申请号：CN200810100859.4
申请日：2008-02-25
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种光刻机物镜点光源工作条件下杂光系数测试装置，属于光电测试技术领域。本发明旨在解决影响光刻质量的成像物镜像面杂光这个关键成像性能的高精度测量与评估。本发明由点光源照明系统、光刻物镜、像方接收系统组成；光刻物镜放置在点光源孔的光路上。像方接收系统由小孔光阑、中继光学系统、积分球后端的牛角消光管、光电探测器、信号处理系统组成。点光源照明系统的光线通过光刻机物镜像方上的小孔光阑后的艾里斑像，然后由积分球探测，测得光刻机物镜点光源工作条件下的随照明视场变化的杂光系数。本发明装置具有探测信噪比高、精度高，功能强，可用于新研制和使用中的光刻机物镜成像质量的检测、监控与评估。
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公开(公告)号：CN101231158A
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：CN200810057898.0
申请日：2008-02-20
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种基于液体变焦透镜的微小物体三维外形尺寸的快速检测装置。本发明包括二维平移台、被测物体、液体变焦透镜、有限共轭物镜、聚焦镜、CCD摄像机、图像采集模块、计算机、液体变焦透镜控制器。在二维平移台上放置被测物体，经液体变焦透镜、有限共轭物镜、聚焦镜后成像在CCD摄像机的感光像面上。CCD摄像机通过图像采集模块与计算机连接；计算机通过液体变焦透镜控制器与液体变焦透镜连接。本发明将液体变焦透镜应用于微小物体三维外形尺寸的快速检测。本装置光学系统中没有机械移动部件，提高了仪器的测量速度与使用寿命。可用于机械加工、MEMS、微电子、生物医药等领域中进行快速的三维外形尺寸检测。
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公开(公告)号：CN100389312C
公开(公告)日：2008-05-21
申请号：CN200610128631.7
申请日：2006-09-04
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提供了一种CCD摄像机分辨率客观评测方法，该方法包括以下步骤：获得一个分组多条纹图案靶板图像；将具有不同条纹宽度的条纹区域进行分离；抽取每个条纹区域中的一行的灰度值；分别将对应各条纹区域的所述灰度致信号转换至频域，其中，在保证采样后不同分辨率条纹的空间频率是对应物方空间频率间隔的整数倍的情况下，确定采样频率；从相应的频谱图中分别获得对应各条纹区域的摩尔条纹的幅值，以及特征频率幅值；最后对比各条纹区域的特征频率幅值与摩尔条纹频率幅值的关系，这种方法有效地解决了以往对于高频段变频光栅中出现摩尔条纹，从而影响判别的问题。本发明还提供了一种CCD摄像机分辨率测定系统。
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