公开(公告)号：CN117172183A

公开(公告)日：2023-12-05

申请号：CN202311312872.7

申请日：2023-10-11

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 刘超铭 ,  芮二明 ,  高乐 ,  焦强 ,  田雨 ,  王天琦 ,  霍明学

IPC: G06F30/39 ,  G06F18/214 ,  G06F119/02

Abstract: 本发明的一种IGBT可靠性的预测方法，涉及IGBT可靠性建模并通过建模获得可靠性预测的方法。目的是为了克服现有IGBT可靠性预测方法建模困难、特征提取限制，模型可解释性也较差的问题，具体步骤如下：步骤一、将需预测可靠性的IGBT的预计工作时长输入至训练好的可靠性预测模型，得到IGBT的集电极‑发射极关断瞬时峰值电压预测值；步骤二、将集电极‑发射极关断瞬时峰值电压预测值与预设的可集电极‑发射极关断瞬时峰值电压阈值比较，在集电极‑发射极关断瞬时峰值电压预测值小于集电极‑发射极关断瞬时峰值电压阈值时，判断IGBT在预计工作时长后状态可靠。