公开(公告)号：CN102918320A

公开(公告)日：2013-02-06

申请号：CN201180025884.0

申请日：2011-06-29

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 藤原纪人 ,  南功治 ,  中村笃

IPC: F21V8/00 ,  F21V7/08 ,  F21V7/09 ,  F21V9/08 ,  F21Y101/00

CPC classification number: F21S8/006 ,  F21Y2105/00 ,  G02B6/0006

Abstract: 本发明一实施方式的光源装置（10）具有：光源（11）；椭圆反射板（14），对光源（11）放射的光进行集光；前反射板（16），被配置在与椭圆反射板（14）对向的位置，其剖面为以光源位置为大致中心的圆弧，且前反射板（16）还具有用于使光射出的开口部（21）；和圆形反射板（13），被配置在与前反射板（16）对向的位置，用于反射与出射方向逆行的光；具有与开口部（21）尺寸相同的光入射面的导光体（30）将光入射面临近开口部（21）设置。此外，导光体（30）被配置成：将椭圆反射板（14）的椭圆短轴（18）与椭圆面间的交点分别与椭圆反射板（14）的第2焦点（20）相连所形成的线段间的距离，与导光体（30）的光入射面的直径一致。

公开(公告)号：CN101449191B

公开(公告)日：2012-07-18

申请号：CN200780018431.9

申请日：2007-03-20

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 阿部良 ,  南出彰三 ,  南功治

IPC: G02B7/02

CPC classification number: G02B7/021 ,  H04N5/2257 ,  Y10T29/49826

Abstract: 本发明具有：2块透镜即第1透镜(1)、第2透镜(2)；夹持各第1透镜(1)、第2透镜(2)的筒状的透镜框(3)；及与所述第1透镜(1)、第2透镜(2)彼此相对的透镜面抵接的3个间隔物(7)。间隔物(7)以与第1透镜(1)、第2透镜(2)的曲面抵接的状态介于两者之间，来决定第1透镜(1)、第2透镜(2)两者的间隔。另外，所述透镜框(3)的内径在第1透镜(1)、第2透镜(2)之间是相同的，间隔物(7)与透镜框(3)的内壁抵接。由于透镜框(3)的内径在第1透镜(1)、第2透镜(2)之间是相同的，因此第1透镜(1)、第2透镜(2)以其中心完全一致的状态被夹持。

公开(公告)号：CN100337279C

公开(公告)日：2007-09-12

申请号：CN200410047737.5

申请日：2004-05-14

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 上山徹男 ,  南功治 ,  三宅知之 ,  中田泰男

IPC: G11B11/10

CPC classification number: G11B7/1353 ,  G11B7/1365 ,  G11B11/10545 ,  G11B11/10597 ,  G11B2007/0006

Abstract: 提供一种用于磁光记录介质的拾取器，其通过消除偏振光之间的相位差改进了再现信号的质量，并能处置不同记录/再现系统的磁光记录介质。一由磁光记录介质反射的返回光束被极化，并通过设置在一个光源(52)和一个物镜(54)之间的一个分光衍射元件(55)将其分成±1级衍射光。第一与第二第一相位补偿元件(60，61)补偿该±1级衍射光相位，以使得在偏振化之间没有相位差，且进一步被第一与第二偏振/分离元件(56，57)偏振和分离，并被第一与第二光检测元件(58，59)接收。采用具有不同的相位补偿量的第一与第二第一相位补偿元件(60，61)能够处置不同记录/再现系统的磁光记录介质。

公开(公告)号：CN100334627C

公开(公告)日：2007-08-29

申请号：CN200510004058.4

申请日：2005-01-10

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 小川胜 ,  上山彻男 ,  南功治 ,  三宅知之 ,  沼田富行

IPC: G11B7/12 ,  G11B7/135 ,  G11B7/09

CPC classification number: G11B7/131 ,  G11B7/0901 ,  G11B7/123 ,  G11B7/1353 ,  G11B7/1381

Abstract: 本发明涉及具备光源和光检测器的光集成单元、光头装置及光盘装置。光集成单元具备为照射激光于光盘用的半导体激光器、用于利用激光形成主光束及两个子光束的衍射光栅、用于分割来自光盘的反射光的偏振光全息图(1)、以及检测反射光用的光检测器。偏振光全息图(1)包含沿着与光盘旋转时的半径方向在光学上对应的方向形成的第1分割线(51)，主光束M入射区域(45)以第1分割线(51)为边界分割，子光束A入射区域(46)及子光束B入射区域(47)避开第1分割线(51)配置。

公开(公告)号：CN102762916A

公开(公告)日：2012-10-31

申请号：CN201180010286.6

申请日：2011-03-08

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 小林章子 ,  南功治 ,  多田野宏之 ,  藤原纪人 ,  井殿多闻 ,  中村笃

IPC: F21S2/00 ,  F21V8/00 ,  G02B6/00 ,  F21Y103/00

CPC classification number: G02B6/0028 ,  F21S8/006 ,  G02B6/0018 ,  G02B6/0038 ,  G02B6/4298

Abstract: 本发明的光源装置是对从光源射出的光进行聚光并将其射出的光源装置，其特征在于，将上述光源配置在反射箱内，上述光源装置包括：多个导光体，该多个导光体是具有面积不同的两个端面的圆柱状或棱柱状；以及光分离单元，上述反射箱上设置有多个开口部，对上述开口部分别设置上述导光体，使该导光体的面积较小的端面向着上述光源，上述光分离单元配置在某个开口部与相邻的其他开口部之间。由此，提供一种以高输出射出方向性强的出射光的小型的光源装置、及使用该光源装置的模拟太阳光照射装置。

公开(公告)号：CN102341641A

公开(公告)日：2012-02-01

申请号：CN201080011802.2

申请日：2010-01-28

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 南功治

IPC: F21S2/00 ,  G02B5/02 ,  F21Y101/00

CPC classification number: G02B27/1006 ,  G02B6/0026 ,  G02B6/0028 ,  G02B6/0068 ,  G02B6/007 ,  G02B27/0994 ,  G02B27/126 ,  G02B27/141

Abstract: 从氙光源(1)照射的氙光通过锥形耦合器(5)及气团滤波器(5a)朝向波长选择反射镜(7)。波长选择反射镜(7)使氙光的短波长侧反射并出射至锥形部件(8)。从卤素光源(2)照射的卤素光通过锥形耦合器(6)及反光镜(10)朝向波长选择反射镜(7)。波长选择反射镜(7)使卤素光的长波长侧透过并出射至锥形部件(8)。锥形部件(8)的宽度从光的入射面向出射面缓缓减小。从锥形部件(8)出射的光变化为使得来于氙光的分量的放射方向性、和来于卤素光的分量的放射方向性互相类似。据此，本发明提供一种模拟太阳光照射装置(1)，将均一的照射分布的模拟太阳光照射在照射面(12)。

公开(公告)号：CN101449191A

公开(公告)日：2009-06-03

申请号：CN200780018431.9

申请日：2007-03-20

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 阿部良 ,  南出彰三 ,  南功治

IPC: G02B7/02

CPC classification number: G02B7/021 ,  H04N5/2257 ,  Y10T29/49826

Abstract: 本发明具有：2块透镜即第1透镜(1)、第2透镜(2)；夹持各第1透镜(1)、第2透镜(2)的筒状的透镜框(3)；及与所述第1透镜(1)、第2透镜(2)彼此相对的透镜面抵接的3个间隔物(7)。间隔物(7)以与第1透镜(1)、第2透镜(2)的曲面抵接的状态介于两者之间，来决定第1透镜(1)、第2透镜(2)两者的间隔。另外，所述透镜框(3)的内径在第1透镜(1)、第2透镜(2)之间是相同的，间隔物(7)与透镜框(3)的内壁抵接。由于透镜框(3)的内径在第1透镜(1)、第2透镜(2)之间是相同的，因此第1透镜(1)、第2透镜(2)以其中心完全一致的状态被夹持。

公开(公告)号：CN1815206A

公开(公告)日：2006-08-09

申请号：CN200610004660.2

申请日：2006-01-27

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 栗本英治 ,  南功治

IPC: G01N21/958 ,  G01N21/88 ,  G01M11/00 ,  G03F1/08

Abstract: 本发明揭示一种能高精度检测出叠积多个具有透光性的层的光学元件的缺陷的光学元件缺陷检测方法和缺陷检测装置。以相互不同的2个观察角度(θ1、 θ2)检测出亮点(10)的光强度，对检测出的各观察角度(θ1、θ2)的光强度进行比较，并根据缺陷的观察角度与光强度的相关关系，判断缺陷的正当性、即判断是伪缺陷还是真缺陷，从而严格判别该缺陷是真缺陷还是伪缺陷。

公开(公告)号：CN102713414A

公开(公告)日：2012-10-03

申请号：CN201080062231.5

申请日：2010-07-06

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 井殿多闻 ,  南功治

IPC: F21S2/00 ,  F21Y103/00

CPC classification number: F21S8/006 ,  F21Y2115/10 ,  G02B6/0026 ,  G02B6/0028 ,  G02B6/007

Abstract: 一种模拟太阳光照射装置（30），包括：具有第一光源（1）及第二光源（2）的光源部；以及光选择单元（7），该光选择单元（7）选择从所述第一光源（1）照射出的第一光中的波长比规定边界波长要短的短波长一侧的光、和从所述第二光源（2）照射出的第二光中的波长比规定边界波长要长的长波长一侧的光并输出，该模拟太阳光照射装置（30）的特征在于，包括控制单元（5、6），该控制单元（5、6）控制所述第一光的指向性或所述第二光的指向性，以便按规定入射角入射到所述光选择单元（7）。由此，无需大型化装置就能照射出按照设计那样的模拟太阳光。

公开(公告)号：CN102713413A

公开(公告)日：2012-10-03

申请号：CN201080061878.6

申请日：2010-07-16

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 南功治 ,  中村笃

IPC: F21S2/00 ,  H01L31/04 ,  F21Y101/00

CPC classification number: F21S8/006 ,  G02B6/0026 ,  G02B6/0028 ,  G02B6/005 ,  G02B6/0068 ,  G02B6/007

Abstract: 一种模拟太阳光照射装置（18），包括：由氙气光源（16）和卤素光源（17）构成的光学套件（100、101）、导光板（10）及棱镜片（11）。在棱镜片（11）上形成有透光率调节片（12a～12c）。该透光率调节片（12a～12c）具有将波长比规定波长短的光的大半部分透射、且将波长比规定波长长的光的大半部分反射的特性和/或将波长比规定波长短的光的大半部分反射、且将波长比规定波长长的光的大半部分透射的特性。因此，能分别独立地对氙气光的透光率和卤素光的透光率进行调节。