公开(公告)号：CN100452196C

公开(公告)日：2009-01-14

申请号：CN200610108634.4

申请日：2006-07-27

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 上山彻男 ,  宫崎修 ,  渡边由纪夫 ,  中田泰男 ,  增山富男

IPC: G11B7/12 ,  G11B7/135

CPC classification number: G11B7/1353 ,  G11B7/0903

Abstract: 本发明揭示一种光拾取装置(10)，用衍射光栅(3A)至少将半导体激光器(1)出射的光分成主波束(30)与2个副波束(31、32)的3个光束后，由物镜(5)聚光到光盘(6)的引导沟(61)，来自光盘(6)的3个反射光分别由2分割检测器(8A～8C)接收，并生成循迹误差信号。衍射光栅(3A)分割成具有相位互不相同的周期构造的第1区域、第2区域、以及位于其中间的第3区域的3个区域，而且，根据第2区域的相位，相对于与光盘(6)的引导沟(61)垂直的方向，倾斜地设定周期构造的格子沟方向。

公开(公告)号：CN100337279C

公开(公告)日：2007-09-12

申请号：CN200410047737.5

申请日：2004-05-14

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 上山徹男 ,  南功治 ,  三宅知之 ,  中田泰男

IPC: G11B11/10

CPC classification number: G11B7/1353 ,  G11B7/1365 ,  G11B11/10545 ,  G11B11/10597 ,  G11B2007/0006

Abstract: 提供一种用于磁光记录介质的拾取器，其通过消除偏振光之间的相位差改进了再现信号的质量，并能处置不同记录/再现系统的磁光记录介质。一由磁光记录介质反射的返回光束被极化，并通过设置在一个光源(52)和一个物镜(54)之间的一个分光衍射元件(55)将其分成±1级衍射光。第一与第二第一相位补偿元件(60，61)补偿该±1级衍射光相位，以使得在偏振化之间没有相位差，且进一步被第一与第二偏振/分离元件(56，57)偏振和分离，并被第一与第二光检测元件(58，59)接收。采用具有不同的相位补偿量的第一与第二第一相位补偿元件(60，61)能够处置不同记录/再现系统的磁光记录介质。

公开(公告)号：CN1905025A

公开(公告)日：2007-01-31

申请号：CN200610108634.4

申请日：2006-07-27

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 上山彻男 ,  宫崎修 ,  渡边由纪夫 ,  中田泰男 ,  增山富男

IPC: G11B7/12 ,  G11B7/135

CPC classification number: G11B7/1353 ,  G11B7/0903

Abstract: 本发明揭示一种光拾取装置(10)，用衍射光栅(3A)至少将半导体激光器(1)出射的光分成主波束(30)与2个副波束(31、32)的3个光束后，由物镜(5)聚光到光盘(6)的引导沟(61)，来自光盘(6)的3个反射光分别由2分割检测器(8A～8C)接收，并生成循迹误差信号。衍射光栅(3A)分割成具有相位互不相同的周期构造的第1区域、第2区域、以及位于其中间的第3区域的3个区域，而且，根据第2区域的相位，相对于与光盘(6)的引导沟(61)垂直的方向，倾斜地设定周期构造的格子沟方向。

公开(公告)号：CN1769854A

公开(公告)日：2006-05-10

申请号：CN200510119378.4

申请日：2005-11-02

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 三宅知之 ,  南功治 ,  平野兼史 ,  中田泰男 ,  仓田幸夫

IPC: G01M11/00 ,  G01N21/88

Abstract: 本发明揭示一种光学部件的缺陷检测方法和缺陷检测装置，判断部(13)使入射区(19)的叠层方向的尺寸L1大于光学部件(14)的导光层(22)的厚度L2的方式入射。即使检测用的光(18)的入射位置的定位精度低也能入射到导光层(22)。判断部(13)又使检测用的光(18)以小于光学部件(14)的叠层方向的尺寸L3的方式入射。能防止例如灰尘、伤痕等光学部件(14)中叠层方向Z的两个端面的散射因素使检测用的光(18)散射。因此，可通过检测从光学部件(14)出射的光，高精度检测出光学部件(14)的缺陷(25)。

公开(公告)号：CN1609976A

公开(公告)日：2005-04-27

申请号：CN200410047737.5

申请日：2004-05-14

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 上山徹男 ,  南功治 ,  三宅知之 ,  中田泰男

IPC: G11B11/10

CPC classification number: G11B7/1353 ,  G11B7/1365 ,  G11B11/10545 ,  G11B11/10597 ,  G11B2007/0006

Abstract: 提供一种用于磁光记录介质的拾取器，其通过消除偏振光之间的相位差改进了再现信号的质量，并能处置不同记录/再现系统的磁光记录介质。一由磁光记录介质反射的返回光束被极化，并通过设置在一个光源(52)和一个物镜(54)之间的一个分光衍射元件(55)将其分成±一级衍射光。第一与第二第一相位补偿元件(60，61)补偿该±一级衍射光相位，以使得在偏振化之间没有相位差，且进一步被第一与第二偏振/分离元件(56，57)偏振和分离，并被第一与第二光检测元件(58，59)接收。采用具有不同的相位补偿量的第一与第二第一相位补偿元件(60，61)能够处置不同记录/再现系统的磁光记录介质。

公开(公告)号：CN1609975A

公开(公告)日：2005-04-27

申请号：CN200410045185.4

申请日：2004-05-14

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 南功治 ,  上山徹男 ,  三宅知之 ,  中田泰男

IPC: G11B11/10

CPC classification number: G11B7/1356 ,  G11B7/1365 ,  G11B11/10545

Abstract: 一个对光源(22)发出的和磁光记录介质(21)反射的光束进行分支的分光元件(24)，具有四个分光部分(25a至25d)，和三个放置在被四个分光部分中除了第一个分光部分(25a)之外的其余的三个分光部分(25b至25d)分支的光束路径上的相位补偿装置(27b至27d)，该相位补偿装置为由第M(M＝2至4)个分光部分分支的光束提供固定的相位δM。在此光拾取器(20)中，使用从四组光接收部分(26a至26d)中选出的三组或更少组光接收部分检测到的光束，分别地检测四种光记录介质(21a至21d)的伺服信号。