-
公开(公告)号：CN106796174A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201480081466.7
申请日：2014-08-29
Applicant: 富士通株式会社
Abstract: 本发明的分析方法是将邻苯二甲酸酯从向其照射电磁波而得的光谱进行辨别。该分析方法是准备使不同种类的邻苯二甲酸酯例如(DEHP)和(DINP)分别附着于设置在金属板上的PVC等一对规定基底膜的第1试样和第2试样，使不同种类的邻苯二甲酸酯成为不同状态。向准备的第1试样和第2试样分别照射电磁波，取得金属反射(IR)光谱(P)和金属反射(IR)光谱(Q)。对于不同种类的邻苯二甲酸酯，可得到具有显著差别的光谱，并且使用该光谱能够进行邻苯二甲酸酯类的种类的辨别。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106796174B
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201480081466.7
申请日：2014-08-29
Applicant: 富士通株式会社
Abstract: 本发明的分析方法是将邻苯二甲酸酯从向其照射电磁波而得的光谱进行辨别。该分析方法是准备使不同种类的邻苯二甲酸酯例如(DEHP)和(DINP)分别附着于设置在金属板上的PVC等一对规定基底膜的第1试样和第2试样，使不同种类的邻苯二甲酸酯成为不同状态。向准备的第1试样和第2试样分别照射电磁波，取得金属反射(IR)光谱(P)和金属反射(IR)光谱(Q)。对于不同种类的邻苯二甲酸酯，可得到具有显著差别的光谱，并且使用该光谱能够进行邻苯二甲酸酯类的种类的辨别。
-
公开(公告)号：CN104603596B
公开(公告)日：2016-11-16
申请号：CN201380046089.9
申请日：2013-08-27
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G01N1/04 , G01N23/223 , G01N31/00
CPC classification number: G01N1/04 , G01N1/08 , G01N21/64 , G01N21/8422 , G01N23/223 , G01N23/2273 , G01N2001/028 , G01N2021/8427 , G01N2201/02 , G01N2223/072 , G01N2223/076 , G01N2223/61 , G02B1/14
Abstract: 本发明涉及取样夹具、定量分析方法以及分析系统。取样夹具对形成在基材上的被膜进行取样，具有取样器，该取样器具有规定曲率的凸面状的取样面，上述取样面具有保持与上述被膜接触而取样得到的被膜的接触面和形成于上述接触面的凹部，上述接触面的面积大于上述凹部的面积，上述取样器的硬度高于上述被膜的硬度。
-
公开(公告)号：CN104364631A
公开(公告)日：2015-02-18
申请号：CN201280073869.8
申请日：2012-06-12
Applicant: 富士通株式会社
Inventor： 尾崎光男
CPC classification number: G01N29/036 , G01N5/02 , G01N15/0606 , G01N17/00 , G01N2291/021 , G01N2291/0256 , G01N2291/0426
Abstract: 本发明提供一种环境测定装置以及环境测定方法，在环境测定装置以及环境测定方法中，高精度地测定大气中的腐蚀性气体。环境测定装置(10)具备运算部(13)，其计算出第1QCM传感器(11a)的第1共振频率(f1m)的第1变化量(Δf1m)、以及第2QCM传感器(11b)的第2共振频率(f2m)的第2变化量(Δf2m)，运算部(14)基于第1期间(T1)内的第1变化量(Δf1m)和该第1期间(T1)内的第2变化量(Δf2m)，来修正该第2变化量(Δf2m)。
-
公开(公告)号：CN104364631B
公开(公告)日：2016-10-05
申请号：CN201280073869.8
申请日：2012-06-12
Applicant: 富士通株式会社
Inventor： 尾崎光男
CPC classification number: G01N29/036 , G01N5/02 , G01N15/0606 , G01N17/00 , G01N2291/021 , G01N2291/0256 , G01N2291/0426
Abstract: 本发明提供一种环境测定装置以及环境测定方法，在环境测定装置以及环境测定方法中，高精度地测定大气中的腐蚀性气体。环境测定装置(10)具备运算部(13)，其计算出第1QCM传感器(11a)的第1共振频率(f1m)的第1变化量(Δf1m)、以及第2QCM传感器(11b)的第2共振频率(f2m)的第2变化量(Δf2m)，运算部(14)基于第1期间(T1)内的第1变化量(Δf1m)和该第1期间(T1)内的第2变化量(Δf2m)，来修正该第2变化量(Δf2m)。
-
公开(公告)号：CN104603596A
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201380046089.9
申请日：2013-08-27
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G01N1/04 , G01N23/223 , G01N31/00
CPC classification number: G01N1/04 , G01N1/08 , G01N21/64 , G01N21/8422 , G01N23/223 , G01N23/2273 , G01N2001/028 , G01N2021/8427 , G01N2201/02 , G01N2223/072 , G01N2223/076 , G01N2223/61 , G02B1/14
Abstract: 本发明涉及取样夹具、定量分析方法以及分析系统。取样夹具对形成在基材上的被膜进行取样，具有取样器，该取样器具有规定曲率的凸面状的取样面，上述取样面具有保持与上述被膜接触而取样得到的被膜的接触面和形成于上述接触面的凹部，上述接触面的面积大于上述凹部的面积，上述取样器的硬度高于上述被膜的硬度。
-
-
-
-
-
Search Results
6
records
(took 0.038 seconds)
