公开(公告)号：CN101102111A

公开(公告)日：2008-01-09

申请号：CN200710111104.X

申请日：2007-06-11

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 广濑雅也 ,  大尾欣也 ,  大坂哲也

IPC: H03M1/10 ,  H03M1/12 ,  G01R31/28 ,  G01R31/3167

CPC classification number: H03M1/1071

Abstract: 本发明公开了一种半导体装置，包括A/D转换电路和根据所述A/D转换电路的转换结果进行处理的数字处理电路，其特征在于所述半导体装置包括：第1测试电路，用于实施用于测试所述A/D转换电路的转换结果的非线性误差的运算处理；第2测试电路，用于实施用于测试所述A/D转换电路的转换结果的微分非线性误差的运算处理；其中，所述第1测试电路仅实施用于测试所述A/D转换电路的转换结果的非线性误差的运算处理的一部分；所述第2测试电路仅实施用于测试所述A/D转换电路的转换结果的微分非线性误差的运算处理的一部分；用于实施用于测试所述非线性误差的运算处理的剩余部分和用于测试所述微分非线性误差的运算处理的剩余部分的运算处理部位于半导体测试装置。

公开(公告)号：CN101102111B

公开(公告)日：2011-09-21

申请号：CN200710111104.X

申请日：2007-06-11

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 广濑雅也 ,  大尾欣也 ,  大坂哲也

IPC: H03M1/10 ,  H03M1/12 ,  G01R31/28 ,  G01R31/3167

CPC classification number: H03M1/1071

Abstract: 本发明公开了一种半导体装置，包括A/D转换电路和根据所述A/D转换电路的转换结果进行处理的数字处理电路，其特征在于所述半导体装置包括：第1测试电路，用于实施用于测试所述A/D转换电路的转换结果的非线性误差的运算处理；第2测试电路，用于实施用于测试所述A/D转换电路的转换结果的微分非线性误差的运算处理；其中，所述第1测试电路仅实施用于测试所述A/D转换电路的转换结果的非线性误差的运算处理的一部分；所述第2测试电路仅实施用于测试所述A/D转换电路的转换结果的微分非线性误差的运算处理的一部分；用于实施用于测试所述非线性误差的运算处理的剩余部分和用于测试所述微分非线性误差的运算处理的剩余部分的运算处理部位于半导体测试装置。