公开(公告)号：CN101410909A

公开(公告)日：2009-04-15

申请号：CN200780010823.0

申请日：2007-10-30

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 川野威 ,  太田修策 ,  星加浩志 ,  桑田丈靖

IPC: G11C16/02

CPC classification number: G11C16/22 ,  G11C16/349

Abstract: 本发明提供一种自停止电路，具有非易失性存储元件(20)、用于控制对该非易失性存储元件(20)的电荷充放电的写入端子(50)以及擦除电路(30)，由判断电路(40)检测存储在非易失性存储元件(20)中的电荷量低于阈值的情况并检测经过时间。由此，检测出产品寿命是否已尽，并停止或变更寿命已尽的产品的工作。在希望恢复工作的情况下，通过向非易失性存储元件(20)再次注入电荷、或者从外部端子(53)向判断电路(40)供给取消信号来实现工作的恢复。

公开(公告)号：CN101026156A

公开(公告)日：2007-08-29

申请号：CN200710004231.X

申请日：2007-01-18

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 太田修策 ,  濑川启明 ,  广藤政则

IPC: H01L27/02 ,  H01L23/544 ,  H01L23/522 ,  H01L23/48 ,  H01L21/66 ,  G01R31/28 ,  G01R31/30 ,  G11C29/50

CPC classification number: G01R31/2879 ,  H01L24/06 ,  H01L2224/05554 ,  H01L2224/0603 ,  H01L2924/14 ,  H01L2924/00

Abstract: 本发明提供一种半导体器件，该半导体器件不需要增加探针的数量，能够实施高精度的老化和探针测试。分别对测试专用电源焊盘(303)提供电源电位，对测试专用接地焊盘(313)提供接地电位。提供给测试专用电源焊盘(303)的电源电位，经由测试专用电源布线(203)、由二极管元件(500、501、502)构成的电位传送电路(420、421、422)，分别传送到电源布线(200、201、202)，然后提供给电路块(100、101、102)。虽然由二极管元件(500～502)产生电压降，但通过设定二极管元件(500～502)的大小、电位传送电路(420～422)的电阻成分，以使对电源布线(200～202)分别均匀地产生电压降，由此能够不使半导体集成电路(10)内产生电压不均匀地实施晶片级老化和探针测试。