荧光测定装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1821753A

    公开(公告)日:2006-08-23

    申请号:CN200610008610.1

    申请日:2006-02-17

    Abstract: 本发明提供一种荧光测定装置,在保持待测试样的基板41上,形成反射从该基板41的上方照射的激励光e1并可透过由上述试样所发出的荧光f1的电介质多层膜42,并由该电介质多层膜42反射激励光e2,由受光部分44检测出透过的荧光f1。根据本发明,可以消除由基板的自身荧光和来自激励光的受光滤光器的漏光所导致的检测灵敏度低下的问题,并可高灵敏度地对测定材料进行检测。

    荧光测定装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100533125C

    公开(公告)日:2009-08-26

    申请号:CN200610008610.1

    申请日:2006-02-17

    Abstract: 本发明提供一种荧光测定装置,在保持待测试样的基板41上,形成反射从该基板41的上方照射的激励光e1并可透过由上述试样所发出的荧光f1的电介质多层膜42,并由该电介质多层膜42反射激励光e2,由受光部分44检测出透过的荧光f1。根据本发明,可以消除由基板的自身荧光和来自激励光的受光滤光器的漏光所导致的检测灵敏度低下的问题,并可高灵敏度地对测定材料进行检测。

    激光器控制装置
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1210703C

    公开(公告)日:2005-07-13

    申请号:CN01800433.4

    申请日:2001-02-09

    CPC classification number: G11B7/1263 G11B7/0062

    Abstract: 在激光器的调制速度高速时,难以正确地检测用于进行激光器功率控制的峰值功率、偏置功率。本发明实现了解决上述问题的激光器控制装置,在该激光器控制装置中,偏置功率电流Ib根据运算电路3的运算值,通过即将记录前的再生时的伺服放大器5的再生功率电流Ir控制值进行控制,由于擦除功率PE是比较长的期间,因此由取样保持电路4检测功率,并由运算电路3控制擦除功率电流Ie,峰值功率PP根据运算电路3的运算值,通过上述擦除功率电流Ie进行控制,由此不需要底峰保持电路和峰值保持电路,而且在光电二极管和监视器电路中也不需要高速性能。

    激光器控制装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1364294A

    公开(公告)日:2002-08-14

    申请号:CN01800433.4

    申请日:2001-02-09

    CPC classification number: G11B7/1263 G11B7/0062

    Abstract: 在激光器的调制速度高速时,难以正确地检测用于进行激光器功率控制的峰值功率、偏置功率。本发明实现了解决上述问题的激光器控制装置,在该激光器控制装置中,偏置功率电流Ib根据运算电路3的运算值,通过即将记录前的再生时的伺服放大器5的再生功率电流Ir控制值进行控制,由于擦除功率PE是比较长的期间,因此由取样保持电路4检测功率,并由运算电路3控制擦除功率电流Ie,峰值功率PP根据运算电路3的运算值,通过上述擦除功率电流Ie进行控制,由此不需要底峰保持电路和峰值保持电路,而且在光电二极管和监视器电路中也不需要高速性能。

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