公开(公告)号：CN1947013A

公开(公告)日：2007-04-11

申请号：CN200580012754.8

申请日：2005-04-25

Applicant: 松下电器产业株式会社 ,  株式会社微细技工·日音

Inventor： 前田瑞夫 ,  秋元克美 ,  堀淳一 ,  村山隆亮 ,  田畑仁平 ,  板东克彦

IPC: G01N33/53 ,  C12Q1/68 ,  G01N37/00 ,  C12N15/09

CPC classification number: C12Q1/6825 ,  C12Q2565/607 ,  C12Q2563/173 ,  C12Q2563/113 ,  C12Q2523/101

Abstract: 提供了一种以高灵敏度检测样品中具有特定序列的基因的基因检测方法及其装置。其包括通过将检测样品中具有特定序列的待检测的基因变性成单链制备基因样品的基因样品制备步骤；将具有与该基因样品的序列互补的碱基序列的单链核酸探针固定在电极上的固定步骤；通过在固定了前述核酸探针构成的电极上添加前述基因样品，在电极上形成前述核酸探针与前述基因样品杂交而成的双链核酸形成步骤；添加具有电化学活性并且通过光照射能共价结合前述双链核酸的插入剂的插入剂添加步骤；通过进行光照射使前述插入剂与前述双链核酸共价结合的光照射步骤；清洗未与前述双链核酸反应的插入剂的清洗步骤；和通过电化学测定检测与前述双链核酸共价结合的插入剂的测定步骤。

公开(公告)号：CN1821753A

公开(公告)日：2006-08-23

申请号：CN200610008610.1

申请日：2006-02-17

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 田畑仁平 ,  宫川智

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/645 ,  G01N21/03 ,  G01N21/031 ,  G01N21/6452 ,  G01N2021/0346 ,  G01N2021/6471

Abstract: 本发明提供一种荧光测定装置，在保持待测试样的基板41上，形成反射从该基板41的上方照射的激励光e1并可透过由上述试样所发出的荧光f1的电介质多层膜42，并由该电介质多层膜42反射激励光e2，由受光部分44检测出透过的荧光f1。根据本发明，可以消除由基板的自身荧光和来自激励光的受光滤光器的漏光所导致的检测灵敏度低下的问题，并可高灵敏度地对测定材料进行检测。

公开(公告)号：CN100533125C

公开(公告)日：2009-08-26

申请号：CN200610008610.1

申请日：2006-02-17

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 田畑仁平 ,  宫川智

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/645 ,  G01N21/03 ,  G01N21/031 ,  G01N21/6452 ,  G01N2021/0346 ,  G01N2021/6471

Abstract: 本发明提供一种荧光测定装置，在保持待测试样的基板41上，形成反射从该基板41的上方照射的激励光e1并可透过由上述试样所发出的荧光f1的电介质多层膜42，并由该电介质多层膜42反射激励光e2，由受光部分44检测出透过的荧光f1。根据本发明，可以消除由基板的自身荧光和来自激励光的受光滤光器的漏光所导致的检测灵敏度低下的问题，并可高灵敏度地对测定材料进行检测。