公开(公告)号：CN100378465C

公开(公告)日：2008-04-02

申请号：CN02808609.0

申请日：2002-10-04

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 金光明彦 ,  伊藤亘 ,  渡边昭彦 ,  野崎史郎 ,  增田智充

IPC: G01R31/3181

CPC classification number: G01R31/31905 ,  G01R31/31932

Abstract: 对具有高速连接功能的物理层部(21)的检查对象LSI(20)进行检查。在检测板(2)上布置上包括事先确定好了为良品的参考LSI(10)的检查装置(1)，将LSI(10)及(20)的高速针和针连接起来。LSI检测器(3)低速地访问逻辑层部(12，22)，控制物理层部(11，21)间的高速通信，读出接收数据，判断检查对象LSI(20)的良否。

公开(公告)号：CN1503911A

公开(公告)日：2004-06-09

申请号：CN02808609.0

申请日：2002-10-04

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 金光明彦 ,  伊藤亘 ,  渡边昭彦 ,  野崎史郎 ,  增田智充

IPC: G01R31/3181

CPC classification number: G01R31/31905 ,  G01R31/31932

Abstract: 对具有高速连接功能的物理层部(21)的检查对象LSI(20)进行检查。在检测板(2)上布置上包括事先确定好了为良品的参考LSI(10)的检查装置(1)，将LSI(10)及(20)的高速针和针连接起来。LSI检测器(3)低速地访问逻辑层部(12，22)，控制物理层部(11，21)间的高速通信，读出接收数据，判断检查对象LSI(20)的良否。