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公开(公告)号：CN1320368C
公开(公告)日：2007-06-06
申请号：CN03127857.4
申请日：2003-08-12
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01R31/28 , G01R31/26 , G01R31/3183 , G01R31/319
CPC classification number: G01R31/31921 , G01R31/3193 , G01R31/31935
Abstract: 一种LSI检查装置，是将LSI测试仪输出的试验信号向检查对象LSI供给、上述检查对象LSI根据上述试验信号进行处理、将所产生的试验结果信号向上述LSI测试仪输出的LSI检查装置，上述LSI检查装置包括与上述检查对象LSI连接的、进行和上述检查对象LSI实际使用时相同的动作的周边电路、和装入了上述周边电路的印刷电路板。
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公开(公告)号：CN100378465C
公开(公告)日：2008-04-02
申请号：CN02808609.0
申请日：2002-10-04
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01R31/3181
CPC classification number: G01R31/31905 , G01R31/31932
Abstract: 对具有高速连接功能的物理层部(21)的检查对象LSI(20)进行检查。在检测板(2)上布置上包括事先确定好了为良品的参考LSI(10)的检查装置(1)，将LSI(10)及(20)的高速针和针连接起来。LSI检测器(3)低速地访问逻辑层部(12，22)，控制物理层部(11，21)间的高速通信，读出接收数据，判断检查对象LSI(20)的良否。
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公开(公告)号：CN1503911A
公开(公告)日：2004-06-09
申请号：CN02808609.0
申请日：2002-10-04
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01R31/3181
CPC classification number: G01R31/31905 , G01R31/31932
Abstract: 对具有高速连接功能的物理层部(21)的检查对象LSI(20)进行检查。在检测板(2)上布置上包括事先确定好了为良品的参考LSI(10)的检查装置(1)，将LSI(10)及(20)的高速针和针连接起来。LSI检测器(3)低速地访问逻辑层部(12，22)，控制物理层部(11，21)间的高速通信，读出接收数据，判断检查对象LSI(20)的良否。
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公开(公告)号：CN1521512A
公开(公告)日：2004-08-18
申请号：CN03127857.4
申请日：2003-08-12
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01R31/31921 , G01R31/3193 , G01R31/31935
Abstract: 一种LSI检查装置，是将LSI测试仪输出的试验信号向检查对象LSI供给、上述检查对象LSI根据上述试验信号进行处理、将所产生的试验结果信号向上述LSI测试仪输出的LSI检查装置，上述LSI检查装置包括与上述检查对象LSI连接的、进行和上述检查对象LSI实际使用时相同的动作的周边电路、和装入了上述周边电路的印刷电路板。
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