公开(公告)号：CN103733224A

公开(公告)日：2014-04-16

申请号：CN201280038798.8

申请日：2012-07-31

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 曹芸芸 ,  西村洋文 ,  S.普拉纳塔 ,  Z.H.牛

IPC: G06T7/00

CPC classification number: H04N5/232 ,  G06K9/4642 ,  G06K2009/4666 ,  H04N21/4728 ,  H04N2201/33371

Abstract: 本发明提供特征提取装置，该特征提取装置能够在抑制物体检测精度降低且抑制处理负荷增加的状态下根据更多的像素生成局部二值模式。该特征提取装置包括对关注像素设定多个子区域的子区域设定单元(433)、以及对每个关注像素生成表示与各子区域之间的像素值比较的局部二值模式的二值模式生成单元(434)，子区域设定单元(433)至少将由多个像素构成的区域设定为子区域且该多个像素包含从关注像素离开的像素，二值模式生成单元(434)对每个子区域计算代表值（437），生成表示该代表值相对于关注像素的像素值的差值（438）是否在规定阈值以上的局部二值模式（439）。