光学元件和检测色谱测距传感器系统的脱离状况的方法

    公开(公告)号:CN104279953B

    公开(公告)日:2018-10-19

    申请号:CN201410315622.3

    申请日:2014-07-03

    Abstract: 提供一种光学元件和检测色谱测距传感器系统的脱离状况的方法。脱离信号元件包括在探测器的可更换型光学元件中。该脱离信号元件被配置为大致透过与测量范围相对应的第一组波长,并且至少部分反射一组脱离信号元件波长。在一个实现中,脱离信号元件包括诸如锐边滤波器等的薄膜涂层。如此可以在无需向探测器或使用该探测器的坐标测量机添加其它外部传感器或布线的情况下,使用现有的探测器电子装置来实现脱离状况的检测。可以利用脱离状况的感测来中止探测器的进一步移动,以使在发生碰撞的情况下的损坏最小。

    光谱测距传感器光学笔用的可更换型光学结构

    公开(公告)号:CN103424074B

    公开(公告)日:2018-03-27

    申请号:CN201310201645.7

    申请日:2013-05-27

    CPC classification number: G01B11/007 G01B21/047 G01B2210/50

    Abstract: 本发明涉及一种光谱测距传感器光学笔用的可更换型光学结构。光谱测距传感器(CRS)中使用的光学笔可以用于坐标测量机(CMM)所用的探测器系统中。该光学笔包括共焦光路、可更换型光学元件、光学笔基座构件和可复用式快速更换卡口。共焦光路包括共焦孔和色散光学部。可更换型光学元件包括色散光学部。光学笔基座构件包括用于安装至外部参照系的外部安装面。可复用式快速更换卡口包括位于光学笔基座构件上的第一配合半体和位于可更换型光学元件上的第二配合半体。可复用式快速更换卡口被配置为使得光学笔基座构件能够将可更换型光学元件容纳和保持为相对于光学笔基座构件和外部参照系固定的关系。

    光谱测距传感器光学笔用的可更换型光学结构

    公开(公告)号:CN103424074A

    公开(公告)日:2013-12-04

    申请号:CN201310201645.7

    申请日:2013-05-27

    CPC classification number: G01B11/007 G01B21/047 G01B2210/50

    Abstract: 本发明涉及一种光谱测距传感器光学笔用的可更换型光学结构。光谱测距传感器(CRS)中使用的光学笔可以用于坐标测量机(CMM)所用的探测器系统中。该光学笔包括共焦光路、可更换型光学元件、光学笔基座构件和可复用式快速更换卡口。共焦光路包括共焦孔和色散光学部。可更换型光学元件包括色散光学部。光学笔基座构件包括用于安装至外部参照系的外部安装面。可复用式快速更换卡口包括位于光学笔基座构件上的第一配合半体和位于可更换型光学元件上的第二配合半体。可复用式快速更换卡口被配置为使得光学笔基座构件能够将可更换型光学元件容纳和保持为相对于光学笔基座构件和外部参照系固定的关系。

    光学元件和检测色谱测距传感器系统的脱离状况的方法

    公开(公告)号:CN104279953A

    公开(公告)日:2015-01-14

    申请号:CN201410315622.3

    申请日:2014-07-03

    CPC classification number: G01B11/14 G01B11/007 G01B2210/50

    Abstract: 提供一种光学元件和检测色谱测距传感器系统的脱离状况的方法。脱离信号元件包括在探测器的可更换型光学元件中。该脱离信号元件被配置为大致透过与测量范围相对应的第一组波长,并且至少部分反射一组脱离信号元件波长。在一个实现中,脱离信号元件包括诸如锐边滤波器等的薄膜涂层。如此可以在无需向探测器或使用该探测器的坐标测量机添加其它外部传感器或布线的情况下,使用现有的探测器电子装置来实现脱离状况的检测。可以利用脱离状况的感测来中止探测器的进一步移动,以使在发生碰撞的情况下的损坏最小。

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