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公开(公告)号:CN105931654B
公开(公告)日:2019-07-02
申请号:CN201610230364.8
申请日:2010-09-16
IPC: G11B7/2433 , G11B7/2437 , C23C14/08 , C23C14/34
CPC classification number: G11B7/2437 , C23C14/08 , C23C14/3414 , G11B7/24038 , G11B7/2433 , G11B2007/24304 , G11B2007/24306 , G11B2007/24308 , G11B2007/24312 , G11B2007/2432 , Y10T428/21
Abstract: 本发明提供记录特性优异的光信息记录介质用记录层、具备该记录层的光信息记录介质及对上述记录层的形成有用的溅射靶。该光信息记录介质用记录层是通过激光的照射进行记录的记录层,其特征在于,含有氧化物相对于1mol氧的标准生成自由能的绝对值比Pd大的金属(以下,称为X金属)的氧化物和氧化Pd,该氧化Pd含有一氧化Pd和二氧化Pd,且Pd原子相对于记录层中所含的X金属原子和Pd原子的合计的比率为4~85原子%。
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公开(公告)号:CN105931654A
公开(公告)日:2016-09-07
申请号:CN201610230364.8
申请日:2010-09-16
IPC: G11B7/2433 , G11B7/2437 , C23C14/08 , C23C14/34
CPC classification number: G11B7/2437 , C23C14/08 , C23C14/3414 , G11B7/24038 , G11B7/2433 , G11B2007/24304 , G11B2007/24306 , G11B2007/24308 , G11B2007/24312 , G11B2007/2432 , Y10T428/21
Abstract: 本发明提供记录特性优异的光信息记录介质用记录层、具备该记录层的光信息记录介质及对上述记录层的形成有用的溅射靶。该光信息记录介质用记录层是通过激光的照射进行记录的记录层,其特征在于,含有氧化物相对于1mol氧的标准生成自由能的绝对值比Pd大的金属(以下,称为X金属)的氧化物和氧化Pd,该氧化Pd含有一氧化Pd和二氧化Pd,且Pd原子相对于记录层中所含的X金属原子和Pd原子的合计的比率为4~85原子%。
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公开(公告)号:CN102640219A
公开(公告)日:2012-08-15
申请号:CN201080040683.3
申请日:2010-09-16
CPC classification number: G11B7/2437 , C23C14/08 , C23C14/3414 , G11B7/24038 , G11B7/2433 , G11B2007/24304 , G11B2007/24306 , G11B2007/24308 , G11B2007/24312 , G11B2007/2432 , Y10T428/21
Abstract: 本发明提供记录特性优异的光信息记录介质用记录层、具备该记录层的光信息记录介质及对上述记录层的形成有用的溅射靶。该光信息记录介质用记录层是通过激光的照射进行记录的记录层,其特征在于,含有氧化物相对于1mol氧的标准生成自由能的绝对值比Pd大的金属(以下,称为X金属)的氧化物和氧化Pd,该氧化Pd含有一氧化Pd和二氧化Pd,且Pd原子相对于记录层中所含的X金属原子和Pd原子的合计的比率为4~85原子%。
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公开(公告)号:CN102859596A
公开(公告)日:2013-01-02
申请号:CN201180018935.7
申请日:2011-04-06
IPC: G11B7/2433 , B41M5/26 , G11B7/24 , G11B7/254 , G11B7/257
CPC classification number: G11B7/243 , G11B7/24038 , G11B7/2578 , G11B7/266 , G11B2007/24304 , G11B2007/24306 , G11B2007/2431 , G11B2007/24312 , G11B2007/2432 , G11B2007/25706 , G11B2007/25708 , G11B2007/2571 , G11B2007/25715
Abstract: 本发明的目的是提供可以应用于具有约每一层25GB的高容量的一次写入光学记录介质、且在提供多层化的记录层构造时具有良好记录特性的光学记录介质。该光线记录介质包括基板21和两个到四个记录层221和222。这些记录层221和222中的至少一者或多者是特定记录层,特定记录层具有包含完全氧化的In、Zn、Al和Sn(也就是说,In2O3、ZnO、Al2O3和SnO2)中的至少一者、PdO、以及PdO2的组分。与特定记录层相邻,设置至少包含In或Al作为主要成分的In/Al氧化物层的电介质层232a和232b。
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公开(公告)号:CN102859596B
公开(公告)日:2016-03-16
申请号:CN201180018935.7
申请日:2011-04-06
IPC: G11B7/24038 , G11B7/2578 , G11B7/243
CPC classification number: G11B7/243 , G11B7/24038 , G11B7/2578 , G11B7/266 , G11B2007/24304 , G11B2007/24306 , G11B2007/2431 , G11B2007/24312 , G11B2007/2432 , G11B2007/25706 , G11B2007/25708 , G11B2007/2571 , G11B2007/25715
Abstract: 本发明的目的是提供可以应用于具有约每一层25GB的高容量的一次写入光学记录介质、且在提供多层化的记录层构造时具有良好记录特性的光学记录介质。该光线记录介质包括基板21和两个到四个记录层221和222。这些记录层221和222中的至少一者或多者是特定记录层,特定记录层具有包含完全氧化的In、Zn、Al和Sn(也就是说,In2O3、ZnO、Al2O3和SnO2)中的至少一者、PdO、以及PdO2的组分。与特定记录层相邻,设置至少包含In或Al作为主要成分的In/Al氧化物层的电介质层232a和232b。
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公开(公告)号:CN101996653A
公开(公告)日:2011-03-30
申请号:CN201010254835.1
申请日:2010-08-13
IPC: G11B7/243
CPC classification number: G11B7/243 , G11B7/24038 , G11B2007/24304 , G11B2007/24306 , G11B2007/2431 , G11B2007/24312 , G11B2007/2432 , Y10T428/21
Abstract: 本发明涉及一种光学记录介质,其包括:衬底;信息记录层,其形成于衬底上,并且具有记录膜,记录膜包含锌或铝、钯和氧,在记录膜中,氧的量大于当锌或铝完全氧化成ZnO或Al2O3时的化学计量成分中的量;和光透射层,其形成于信息记录层上。
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公开(公告)号:CN103189919B
公开(公告)日:2016-03-16
申请号:CN201180043515.4
申请日:2011-09-09
IPC: G11B7/24038 , G11B7/2578 , G11B7/243
CPC classification number: G11B7/243 , G11B7/24038 , G11B7/2578 , G11B2007/24304 , G11B2007/24306 , G11B2007/2431 , G11B2007/2432 , G11B2007/25708 , G11B2007/2571 , G11B2007/25711 , G11B2007/25713 , G11B2007/25715
Abstract: [问题]提供了一种可以控制每个记录层的反射率和透射率且在每个记录层中可以获得满意的记录特性的光学记录介质。[技术方案]一种光学记录介质(10),包括:基板(11);和两个或更多个记录层(121、122、123),所述记录层包含Pd、O、和M(其中M是选自Zn、Al、In、和Sn中的一种或多种元素),并且O的含量大于M被完全氧化(被完全氧化成ZnO、Al2O3、In2O3、和SnO2)时的化学计量组成。当从与记录光入射的侧相对的侧计数时,第n个记录层的Pd含量小于第n-1个记录层中的Pd含量,其中所述第n个记录层是所述两个或更多个记录层(121、122、123)中的任意一个。
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公开(公告)号:CN103189919A
公开(公告)日:2013-07-03
申请号:CN201180043515.4
申请日:2011-09-09
IPC: G11B7/243 , G11B7/24038 , G11B7/2578
CPC classification number: G11B7/243 , G11B7/24038 , G11B7/2578 , G11B2007/24304 , G11B2007/24306 , G11B2007/2431 , G11B2007/2432 , G11B2007/25708 , G11B2007/2571 , G11B2007/25711 , G11B2007/25713 , G11B2007/25715
Abstract: 提供了一种可以控制每个记录层的反射率和透射率且在每个记录层中可以获得满意的记录特性的光学记录介质。[技术方案]一种光学记录介质(10),包括:基板(11);和两个或更多个记录层(121、122、123),所述记录层包含Pd、O、和M(其中M是选自Zn、Al、In、和Sn中的一种或多种元素),并且O的含量大于M被完全氧化(被完全氧化成ZnO、Al2O3、In2O3、和SnO2)时的化学计量组成。当从与记录光入射的侧相对的侧计数时,第n个记录层的Pd含量小于第n-1个记录层中的Pd含量,其中所述第n个记录层是所述两个或更多个记录层(121、122、123)中的任意一个。
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公开(公告)号:CN100345201C
公开(公告)日:2007-10-24
申请号:CN200410062015.7
申请日:2004-06-25
Applicant: 索尼株式会社
IPC: G11B11/105
CPC classification number: G11B11/10584 , G11B7/24082 , G11B11/10515 , G11B11/10578 , G11B11/10582
Abstract: 一种畴壁位移检测(DWDD)系统磁光记录介质将平台(3)和凹槽(4)形成为信号记录区。通过在平台(3)和凹槽(4)之间的边界壁表面(5)上照射退火光(La)改变畴壁位移改进时,通过在沿着边界壁表面(5)的记录磁道长度方向延伸的部分上形成的退火光扫描位置位移检测摆动部分(7)检测该退火光的位置。该退火光扫描该摆动部分(7),因而产生了对应于摆动部分(7)周期的周期的振幅从而高灵敏度地检测和监测退火光扫描位置的微小变化。因此,在该DWDD系统磁光记录介质中,可以以高灵敏度检测平台(3)和凹槽(4)之间边界壁表面处退火光的扫描位置。
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公开(公告)号:CN101185129A
公开(公告)日:2008-05-21
申请号:CN200680018231.9
申请日:2006-05-11
Applicant: 索尼株式会社
IPC: G11B7/0045
CPC classification number: G11B7/00452 , G11B7/006 , G11B7/268
Abstract: 通过利用具有预定激光功率的激光来照射而将基片变形成凸起形状。由于基片被变形成凸起形状,叠压在基片上的反射膜也变形成凸起形状,并且通过凸起变形的实施例,可在凹坑部分处获得与岸台部分处的再现信号电平相等同的再现信号电平。在岸台处可获得与凹坑部分处的再现信号电平相等同的再现信号电平。此时,由于凸起变形实施例可由施加的激光束的功率来控制,因此通过设置激光功率可以使凹坑成为岸台和使岸台成为凹坑。从而,可在其中通过形成在基片上的凹坑和岸台的组合来记录数据的光盘记录介质中重写记录数据。
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