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公开(公告)号：CN110415238A
公开(公告)日：2019-11-05
申请号：CN201910700273.X
申请日：2019-07-31
Applicant: 河海大学常州校区
Abstract: 本发明公开了一种基于反向瓶颈结构深度卷积网络的膜片瑕点检测方法，通过使用基于反向瓶颈结构深度卷积网络，实现了对膜片中瑕疵点的检测与标定。该方法包括图像采集、图像分割、数据标注、网络训练、瑕点检测以及图像拼接等部分。本发明提供的方法充分利用了深度卷积网络对于图像特征提取的有效性，且反向瓶颈结构能够在检测精度得到保证的情况下极大地减少参数的数量，从而实现快速准确地检测出膜片中瑕疵点的目的。
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