测试板
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101907673A

    公开(公告)日:2010-12-08

    申请号:CN200910145746.0

    申请日:2009-06-05

    Abstract: 本发明揭露一种测试板,包含:电源连接接口、多个二极管模块、电源模块、侦测模块以及处理器。电源连接接口包含多个电源接脚,电性连接于主机板电源连接孔,以分别接收电源信号;各二极管模块包含至少一二极管,各二极管模块对应电性连接于电源接脚之一;电源模块电性连接于二极管模块,以经由二极管模块自电源接脚接收电源信号;侦测模块电性连接于二极管模块及电源连接接口间,以根据各二极管模块及电源连接接口间的电压产生侦测结果;以及处理器用以根据侦测结果判断电源接脚与对应的该主机板电源连接孔的连接状况。

    外围组件互连快速插槽的测试系统及测试方法

    公开(公告)号:CN101923505A

    公开(公告)日:2010-12-22

    申请号:CN200910145494.1

    申请日:2009-06-09

    Abstract: 本发明揭露一种外围组件互连快速插槽的测试系统及测试方法,其中测试系统包含:外围组件互连快速接脚接口、外围组件互连快速插槽接口、处理模块、数据传输模块以及电源模块。外围组件互连快速接脚接口用以连接主机板;外围组件互连快速插槽接口用以连接待测板;处理模块通过外围组件互连快速接脚接口进行主机板测试程序;数据传输模块切换于不同的数据传输模式,以根据主机板测试程序提供对应主机板的数据传输模式,进一步使主机板及待测板间进行待测板测试程序;以及电源模块用以供应或切断待测板的电源,以提供热插拔作用。

    电感装置及其制造方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101458987A

    公开(公告)日:2009-06-17

    申请号:CN200710198523.1

    申请日:2007-12-11

    Inventor: 王定宏

    Abstract: 本发明公开了一种电感装置及其制造方法。此一电感装置包括印刷电路板、导磁装置以及金属线。各个印刷电路板具有洞孔,导磁装置贯穿印刷电路板上的洞孔,金属线则以漩涡状围绕导磁装置。采用本发明的电感装置及其制造方法,能够减少电感铁芯以及线圈所需面积,进而减小整体电路面积。

    多电压准位检测电路
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101425031A

    公开(公告)日:2009-05-06

    申请号:CN200710165141.9

    申请日:2007-10-29

    Inventor: 蔡圣源 王定宏

    Abstract: 本发明公开了一种多电压准位检测电路,包括比较器、第一电阻、电源信号输入端口以及或门,电源信号输入端口、第一电阻电性连接比较器,或门电性连接各个比较器的输出端,此一或门依据比较器的比较结果输出第一电源良好信号。

    电感装置及其制造方法
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101458987B

    公开(公告)日:2011-05-04

    申请号:CN200710198523.1

    申请日:2007-12-11

    Inventor: 王定宏

    Abstract: 本发明公开了一种电感装置及其制造方法。此一电感装置包括印刷电路板、导磁装置以及金属线。各个印刷电路板具有洞孔,导磁装置贯穿印刷电路板上的洞孔,金属线则以漩涡状围绕导磁装置。采用本发明的电感装置及其制造方法,能够减少电感铁芯以及线圈所需面积,进而减小整体电路面积。

    电子元件测试系统及其电子元件测试接口

    公开(公告)号:CN101901179A

    公开(公告)日:2010-12-01

    申请号:CN200910143805.0

    申请日:2009-05-26

    Abstract: 本发明揭露一种电子元件测试接口以及系统,以测试一待测装置的功能,此电子元件测试接口含有电源控制电路以及桥接器接口。电源控制电路依序地提供备用电源以及工作电源予待测装置,或停止供应电源予待测装置。桥接器接口耦接电源控制电路、待测装置以及主机板装置,以在待测装置以及主机板装置之间来传递指令以及数据,此桥接器接口是依据主机板装置所给的指令,使电源控制电路提供电源予待测装置,或停止供应电源予待测装置。

    多电压准位检测电路
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101425031B

    公开(公告)日:2010-07-21

    申请号:CN200710165141.9

    申请日:2007-10-29

    Inventor: 蔡圣源 王定宏

    Abstract: 本发明公开了一种多电压准位检测电路,包括比较器、第一电阻、电源信号输入端口、或门、一延迟电路以及一与门,比较器具有数个正负输入端,电源信号输入端口、第一电阻电性连接比较器,比较器的正负输入端分别电性连接电源信号输入端口或相应的第一电阻,或门电性连接各个比较器的输出端,此一或门依据比较器的比较结果输出第一电源良好信号,延迟电路电性连接该电源信号输入端口。与门电性连接该或门的一输出端以及该延迟电路,该与门输出一第二电源良好信号。

    电子装置测试系统及方法

    公开(公告)号:CN102455965A

    公开(公告)日:2012-05-16

    申请号:CN201010532043.6

    申请日:2010-10-27

    Abstract: 本发明提供一种电子装置测试系统及方法。所述电子装置测试系统包含一第一数据传输装置、一接口转接卡以及一计算机。第一数据传输装置具有热移除功能。接口转接卡包含一第二数据传输接口以及一转换模块。第二数据传输接口用以连接一待测装置。转换模块电性连接第一数据传输装置以及第二数据传输接口,且对第一数据传输装置以及第二数据传输接口之间传输的数据进行转换。计算机包含一处理组件。处理组件透过第一数据传输装置,连接接口转接卡。处理组件使第一数据传输装置,透过接口转接卡,对待测装置进行一功能测试。在功能测试完成时,处理组件通过热移除功能,移除第一数据传输装置。

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