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公开(公告)号：CN116358701A
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202211708035.1
申请日：2022-12-29
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明公开了一种瞬态光谱ns量级脉冲光延时同步控制触发系统，包括：FPGA电路、接口电路、激光器驱动电路、探测器驱动电路，激光器驱动电路连接激光器，探测器驱动电路连接探测器；接口电路包括USB转接口、RS232转接口，具备RS232转TTL电平功能，上位机发送的指令先经过RS232转接口接入进行电平转换，转换为TTL电平传送给FPGA电路；在ns或μs量级光源光谱测量时，FPGA电路通过调整系统内脉冲延时同步控制，实现FPGA电路同步时序功能，实现探测器的曝光时间和待测脉冲激光器出光时间同步，保证光源所有光能量被瞬态光谱仪准确完整捕捉到。本发明解决了在光谱仪测试中光脉冲难以同步触发、纳秒级脉冲激光信号难以捕捉的问题。
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公开(公告)号：CN115931954A
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202111401102.0
申请日：2021-11-19
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01N25/00 , G01N21/3563 , G01N21/01 , G01J5/00 , G01J5/53
Abstract: 本发明属于光学计量测试领域，公开了一种基于控温光阑的高温材料光谱发射率测量装置及测量方法，测量装置由标准黑体、控温光阑、电控旋转反射镜、样品加热炉、三维平台、光学准直系统和傅立叶变换红外光谱仪组成。本发明采用液体循环式控温光阑，光阑表面温度与实验室环境温度相同，在光谱发射率测量时无需引入反射率近似为1的漫反射板，也无须真空恒温系统，即可消除环境辐射及大气透过率影响，提高光谱发射率测量精度；本发明设计渐变光阑实现材料样品有效探测面积选取，实现宽温度范围红外辐射信号的高动态范围测量。
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公开(公告)号：CN115435593A
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202211088366.X
申请日：2022-09-07
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: F27B14/06 , F27B14/08 , F27B14/10 , F27B14/14 , F27B14/20 , F27D7/06 , F27D9/00 , F27D11/10 , F27D21/00 , G01N21/25
Abstract: 本发明属于光学计量测试技术领域，公开了一种高温材料发射率测试用样品加热炉，其包括：炉体，炉体内水平设置石墨管，石墨管中央装夹石墨加热板，把石墨管分成两个对称的涂黑腔体，两侧腔体温度相同，一侧用于炉体内温度测量，另一侧作为样品加热腔对样品进行加热。本发明样品辐射加热，满足样品高精度加热的同时有效抑制腔体效应；采用石墨板热传导和石墨管腔体热辐射共同加热方式对样品进行加热，石墨管采用锥形设计，优化加工不等厚管壁，石墨管内部温差小于0.1℃，实现样品快速均匀加热。
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公开(公告)号：CN112665293B
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN202011535396.1
申请日：2020-12-23
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明公开了一种应用于超高真空低温制冷系统的穿舱绝热压紧机构，包括操作手轮、螺杆、刀口法兰、波纹管、弹簧、隔热柱；螺杆前部安装操作手轮，中部通过螺纹连接安装在刀口法兰中心螺纹孔内，后部套设波纹管，螺杆后部端部连接波纹管的后接头II；波纹管的前端固定在刀口法兰上，后端设置弹簧，弹簧后端布置沿轴向可活动的隔热柱；转动操作手轮，带动螺杆前后移动，波纹管压缩或伸长。本发明可以使得操作人员可以通过旋转操作手轮，改变螺杆伸入真空舱室的长度使隔热组件获得不同压力，实现对超高真空舱室内活动的低温器件的压紧，而不使舱室内超高真空环境被破坏；选择低热导率的陶瓷材料制作隔热柱，达到一定绝热效果。
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公开(公告)号：CN119575556A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411604977.4
申请日：2024-11-12
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明提出了一种用于快速光纤延迟线的调试方法，包括寻找定位电机平移台驱动轴作为主光轴，利用经纬仪和可见光激光器进行主光轴转换，然后调节两个光纤准直镜使其光轴与主光轴平行，并通过调整两个移动角锥反射镜的位置，确保可见激光细光束能够依次经过这些反射镜并最终从另一个光纤准直镜射出。最后，微调光纤准直镜以最大化光纤延迟线的耦合效率平均值，并最小化其变化率，从而在平移台移动过程中有效控制光纤延迟线的耦合效率变化，确保太赫兹时域光谱仪和光频梳的测量精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114942079B
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202210482690.3
申请日：2022-05-05
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J9/02
Abstract: 本发明属于光学计量测试技术领域，公开了一种柱面压缩成像系统最佳匹配调试方法，首先匹配柱面镜和线阵CCD，通过观察线阵CCD的输出至示波器的波形，当输出波形接近一条直线且信号的幅值最大时，完成柱面镜和线阵CCD的匹配；然后将柱面镜和线阵CCD作为一个整体与干涉模块进行匹配，通过观察线阵CCD输出至示波器的波形，当输出波形的占空比接近1:1且信号峰谷值最大时，干涉模块与柱面镜线阵CCD整体匹配完成。本发明解决了菲索激光波长计中的柱面压缩成像系统的调式难题，有效保证菲索波长计的波长测量精度。
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公开(公告)号：CN115031838A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210481451.6
申请日：2022-05-05
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于光学测量技术领域，公开了一种扫描式双层二次衍射线阵光谱仪波长标定方法，高精度光谱仪主要是硬件上选择高线对数光栅、采用单次或者多次色散、长焦距汇聚镜、扫描摄谱等技术实现高准确度波长测量，该类光谱仪具备高光谱分辨率、高波长准确度等技术特点，标定方法首先对线阵探测器中心像元的波长标定，然后对线阵探测器非中心像元的波长标定。本发明可解决此类光谱仪波长的准确标定，尤其可实现紫外到近红外波段波长准确度±0.05nm的二次衍射的线阵光谱仪波长标定。
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公开(公告)号：CN119413275A
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202411604964.7
申请日：2024-11-12
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本申请提出了太赫兹源辐射强度远场测量装置、方法及调试光路的方法。属于光学测量与计量领域，该装置包括太赫兹发射系统、太赫兹衰减系统、太赫兹探测系统、延伸转接板和计算机。能够实现(0.1～10)THz波段范围内，输出功率大于1mW的太赫兹源辐射强度远场分布测试。测量方法包括将太赫兹功率计测量到的太赫兹辐射功率记为Pm，调节光阑的直径为D，太赫兹衰减器的透过率记为τ1，太赫兹窄带滤光片的透过率记为τ2，每只楔形反射镜的反射率均为R，楔形反射镜数量为n个，被测太赫兹辐射器与可变光阑之间的距离记为L，利用公式计算得到被测太赫兹辐射器的辐射强度值。能够保证了远场测量太赫兹源辐射结果的量值准确。
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公开(公告)号：CN115031838B
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202210481451.6
申请日：2022-05-05
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于光学测量技术领域，公开了一种扫描式双层二次衍射线阵光谱仪波长标定方法，高精度光谱仪主要是硬件上选择高线对数光栅、采用单次或者多次色散、长焦距汇聚镜、扫描摄谱等技术实现高准确度波长测量，该类光谱仪具备高光谱分辨率、高波长准确度等技术特点，标定方法首先对线阵探测器中心像元的波长标定，然后对线阵探测器非中心像元的波长标定。本发明可解决此类光谱仪波长的准确标定，尤其可实现紫外到近红外波段波长准确度±0.05nm的二次衍射的线阵光谱仪波长标定。
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公开(公告)号：CN115435593B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202211088366.X
申请日：2022-09-07
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: F27B14/06 , F27B14/08 , F27B14/10 , F27B14/14 , F27B14/20 , F27D7/06 , F27D9/00 , F27D11/10 , F27D21/00 , G01N21/25
Abstract: 本发明属于光学计量测试技术领域，公开了一种高温材料发射率测试用样品加热炉，其包括：炉体，炉体内水平设置石墨管，石墨管中央装夹石墨加热板，把石墨管分成两个对称的涂黑腔体，两侧腔体温度相同，一侧用于炉体内温度测量，另一侧作为样品加热腔对样品进行加热。本发明样品辐射加热，满足样品高精度加热的同时有效抑制腔体效应；采用石墨板热传导和石墨管腔体热辐射共同加热方式对样品进行加热，石墨管采用锥形设计，优化加工不等厚管壁，石墨管内部温差小于0.1℃，实现样品快速均匀加热。
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