公开(公告)号：CN107076871B

公开(公告)日：2020-01-17

申请号：CN201580058721.0

申请日：2015-08-04

Applicant: 通用电气公司

Inventor： E.伯肯 ,  J.S.普赖斯 ,  E.J.尼特斯 ,  W.R.罗斯 ,  C.比诺 ,  Y.A.普罗特尼科夫 ,  S.M.李

IPC: G01V5/14

Abstract: 一种井完整性检查系统(100)，配置成检查包括多个同心层的井结构(102)。井完整性检查系统(100)包括定位于井结构(102)中的检查探头(104)。检查探头(104)包括用于将多个辐射发射(134、164)传输至井结构(102)中的多个激励组件(132、162)。多个激励组件(132、162)包括至少中子激励组件(132)和X射线激励组件(162)。检查探头(104)还包括多个探测组件(136、166)，其配置成从井结构接收多个背向散射辐射回波(138、168)。多个探测组件(136、166)包括至少中子探测组件(136)和X射线探测组件(166)。井完整性检查系统(100)还包括可操作地联接至检查探头(104)的处理器(190)。处理器(190)配置成基于多个背向散射辐射回波(138、168)中的至少一个来确定井结构(102)的井完整性参数。

公开(公告)号：CN107076871A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201580058721.0

申请日：2015-08-04

Applicant: 通用电气公司

Inventor： E.伯肯 ,  J.S.普赖斯 ,  E.J.尼特斯 ,  W.R.罗斯 ,  C.比诺 ,  Y.A.普罗特尼科夫 ,  S.M.李

IPC: G01V5/14

Abstract: 一种井完整性检查系统(100)，配置成检查包括多个同心层的井结构(102)。井完整性检查系统(100)包括定位于井结构(102)中的检查探头(104)。检查探头(104)包括用于将多个辐射发射(134、164)传输至井结构(102)中的多个激励组件(132、162)。多个激励组件(132、162)包括至少中子激励组件(132)和X射线激励组件(162)。检查探头(104)还包括多个探测组件(136、166)，其配置成从井结构接收多个背向散射辐射回波(138、168)。多个探测组件(136、166)包括至少中子探测组件(136)和X射线探测组件(166)。井完整性检查系统(100)还包括可操作地联接至检查探头(104)的处理器(190)。处理器(190)配置成基于多个背向散射辐射回波(138、168)中的至少一个来确定井结构(102)的井完整性参数。