公开(公告)号：CN103957788A

公开(公告)日：2014-07-30

申请号：CN201280058434.6

申请日：2012-09-28

Applicant: 通用电气公司

Inventor： E.伯肯 ,  S.E.韦弗 ,  陈楠楠 ,  S.钱德拉塞卡兰

IPC: A61B5/087 ,  G01F1/36 ,  G01F1/68 ,  G01F1/72 ,  G01F7/00 ,  A61M16/00 ,  A61B5/00 ,  A61M16/16

CPC classification number: G01F1/3272 ,  A61B5/087 ,  A61B5/0878 ,  A61B5/7235 ,  A61B2562/028 ,  A61M16/0051 ,  A61M16/0069 ,  A61M16/021 ,  A61M16/16 ,  A61M2016/0027 ,  A61M2016/0039 ,  G01F1/3245 ,  G01F1/3254 ,  G01F1/329 ,  G01F1/72 ,  Y10T29/49826

Abstract: 一种流传感器部件、打鼾检测部件及其制造方法。流传感器部件包含：用于流体流动的流管；用于对流体流动赋予干扰的扰流器；响应于流体流动的干扰、并被配置为响应于流体流动的干扰来产生信号的第一传感器；以及用于基于确定第一流态中流体流动的幅度的第一算法和确定第二流态中流体流动的频率的第二算法，对经由流管的流体流动确定流率的处理器。

公开(公告)号：CN104635075A

公开(公告)日：2015-05-20

申请号：CN201410638754.X

申请日：2014-11-07

Applicant: 通用电气公司

Inventor： E.伯肯 ,  李瑢宰 ,  SMS.哈桑 ,  S.W.维克

IPC: G01R31/00

CPC classification number: H04Q9/00 ,  H04B5/0075

Abstract: 本发明提供一种远程监视系统。所述系统包括传感器单元，所述传感器单元设置在所述电气装置中并且被配置成获取响应于所述电气装置的被测对象的测量特性，获取对所述电气装置的所述被测对象不敏感的参考特性，并且使用随时间变化的电磁场传输所述测量特性和所述参考特性。此外，所述系统包括读取器单元，所述读取器单元用于在所述电气装置中存在至少一个金属干扰源时与所述传感器单元建立远场通信，其中所述读取器单元被配置成响应于传输到所述传感器单元的射频信号，接收与所述测量特性和所述参考特性相关的所述随时间变化的电磁场，并且基于所接收的与所述测量特性和所述参考特性相关的随时间变化的电磁场的至少一个性质，确定所述电气装置的所述被测对象。

公开(公告)号：CN107076871B

公开(公告)日：2020-01-17

申请号：CN201580058721.0

申请日：2015-08-04

Applicant: 通用电气公司

Inventor： E.伯肯 ,  J.S.普赖斯 ,  E.J.尼特斯 ,  W.R.罗斯 ,  C.比诺 ,  Y.A.普罗特尼科夫 ,  S.M.李

IPC: G01V5/14

Abstract: 一种井完整性检查系统(100)，配置成检查包括多个同心层的井结构(102)。井完整性检查系统(100)包括定位于井结构(102)中的检查探头(104)。检查探头(104)包括用于将多个辐射发射(134、164)传输至井结构(102)中的多个激励组件(132、162)。多个激励组件(132、162)包括至少中子激励组件(132)和X射线激励组件(162)。检查探头(104)还包括多个探测组件(136、166)，其配置成从井结构接收多个背向散射辐射回波(138、168)。多个探测组件(136、166)包括至少中子探测组件(136)和X射线探测组件(166)。井完整性检查系统(100)还包括可操作地联接至检查探头(104)的处理器(190)。处理器(190)配置成基于多个背向散射辐射回波(138、168)中的至少一个来确定井结构(102)的井完整性参数。

公开(公告)号：CN107076871A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201580058721.0

申请日：2015-08-04

Applicant: 通用电气公司

Inventor： E.伯肯 ,  J.S.普赖斯 ,  E.J.尼特斯 ,  W.R.罗斯 ,  C.比诺 ,  Y.A.普罗特尼科夫 ,  S.M.李

IPC: G01V5/14

Abstract: 一种井完整性检查系统(100)，配置成检查包括多个同心层的井结构(102)。井完整性检查系统(100)包括定位于井结构(102)中的检查探头(104)。检查探头(104)包括用于将多个辐射发射(134、164)传输至井结构(102)中的多个激励组件(132、162)。多个激励组件(132、162)包括至少中子激励组件(132)和X射线激励组件(162)。检查探头(104)还包括多个探测组件(136、166)，其配置成从井结构接收多个背向散射辐射回波(138、168)。多个探测组件(136、166)包括至少中子探测组件(136)和X射线探测组件(166)。井完整性检查系统(100)还包括可操作地联接至检查探头(104)的处理器(190)。处理器(190)配置成基于多个背向散射辐射回波(138、168)中的至少一个来确定井结构(102)的井完整性参数。