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公开(公告)号:CN104635075A
公开(公告)日:2015-05-20
申请号:CN201410638754.X
申请日:2014-11-07
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01R31/00
CPC classification number: H04Q9/00 , H04B5/0075
Abstract: 本发明提供一种远程监视系统。所述系统包括传感器单元,所述传感器单元设置在所述电气装置中并且被配置成获取响应于所述电气装置的被测对象的测量特性,获取对所述电气装置的所述被测对象不敏感的参考特性,并且使用随时间变化的电磁场传输所述测量特性和所述参考特性。此外,所述系统包括读取器单元,所述读取器单元用于在所述电气装置中存在至少一个金属干扰源时与所述传感器单元建立远场通信,其中所述读取器单元被配置成响应于传输到所述传感器单元的射频信号,接收与所述测量特性和所述参考特性相关的所述随时间变化的电磁场,并且基于所接收的与所述测量特性和所述参考特性相关的随时间变化的电磁场的至少一个性质,确定所述电气装置的所述被测对象。
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公开(公告)号:CN107003160A
公开(公告)日:2017-08-01
申请号:CN201580067953.2
申请日:2015-10-20
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01D18/00
CPC classification number: G01D18/00 , G01D5/245 , G01D18/008
Abstract: 用于校准现场测量设备的计量系统包括耦连至现场装置的现场测量设备。所述测量设备被配置成生成对应于与所述现场装置关联的物理测量值的测量信号。所述测量信号定义原始数据流。所述系统还包括移动校准装置,所述移动校准装置包括具有驻存的校正算法的传递函数模块。所述移动校准装置还包括校准标准数据模块,所述校准标准数据模块包括与测量设备关联的驻存于其上的校准标准数据。所述移动校准装置被配置成与所述测量设备建立双向通信,促进把所述测量设备转换到校准模式,从所述测量设备接收原始数据流,向所述传递函数模块传送原始数据流以及校准所述现场测量设备。所述传递函数模块被配置成通过校正算法生成差值数据流。
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公开(公告)号:CN105794180A
公开(公告)日:2016-07-20
申请号:CN201480067358.4
申请日:2014-09-04
Applicant: 通用电气公司
IPC: H04L29/08
Abstract: 一种度量接口设备包括印刷电路板(“PCB”),所述印刷电路板包括至少一个度量传感器通信接口和至少一个第一无线通信接口。”该度量接口设备经由度量传感器通信接口与度量感测设备通信。每个度量感测设备耦合到物理资产,以及从度量感测设备接收感测数据。该度量接口设备经由度量传感器通信接口从度量感测设备接收度量数据。度量数据实质性表示与物理资产关联的物理测量数据。每个度量接口设备向多个移动计算设备广告连接可用性,从连接移动计算设备接收连接请求,以及创建与连接移动计算设备的活动连接。
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公开(公告)号:CN105143818B
公开(公告)日:2018-07-03
申请号:CN201380067381.9
申请日:2013-10-11
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B5/06 , G01B3/50 , G01B21/08 , G01B21/16 , G01B2210/58
Abstract: 本申请提供了测隙规。测隙规包括关于公共旋转轴线与长形壳体可旋转地联接的多个长形测量叶。叶可能够在其中叶与壳体大致对准的″原位″位置与其中叶与壳体间隔的″延伸″位置之间人工地选择性地旋转。叶可为相对柔性且大致平的,使得它们限定大致恒定的厚度。一个或更多个延伸叶可用于测量空隙或间隙的厚度。规可构造成检测、确定或测量处于″原位″位置和/或″延伸″位置的叶的厚度,并且从而确定由延伸叶测得的空隙或间隙的总厚度。
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公开(公告)号:CN105143818A
公开(公告)日:2015-12-09
申请号:CN201380067381.9
申请日:2013-10-11
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B5/06 , G01B3/50 , G01B21/08 , G01B21/16 , G01B2210/58
Abstract: 本申请提供了测隙规。测隙规包括关于公共旋转轴线与长形壳体可旋转地联接的多个长形测量叶。叶可能够在其中叶与壳体大致对准的″原位″位置与其中叶与壳体间隔的″延伸″位置之间人工地选择性地旋转。叶可为相对柔性且大致平的,使得它们限定大致恒定的厚度。一个或更多个延伸叶可用于测量空隙或间隙的厚度。规可构造成检测、确定或测量处于″原位″位置和/或″延伸″位置的叶的厚度,并且从而确定由延伸叶测得的空隙或间隙的总厚度。
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