利用单个发光粒子检测的光分析方法

    公开(公告)号:CN103119421B

    公开(公告)日:2015-04-08

    申请号:CN201180045547.8

    申请日:2011-09-16

    Inventor: 田边哲也

    Abstract: 提供如下一种方法:在使用了共焦显微镜或多光子显微镜的光测量的扫描分子计数法中,避免由于多个发光粒子暂时包含在光检测区域内而发光粒子的检测个数的精度恶化。在本发明的光分析技术中,在一边通过变更共焦显微镜或多光子显微镜的光学系统的光路使光检测区域的位置在样本溶液内移动一边在测量光的强度而生成的光强度数据中,在以选择性地将具有超过阈值的强度的信号检测为表示发光粒子的光的信号的方式个别检测表示发光粒子的光的信号时,设定阈值使得选择性地检测表示来自包含在光检测区域内的比该光检测区域狭小的区域中的发光粒子的光的信号。

    利用单个发光粒子检测的光分析方法

    公开(公告)号:CN103119421A

    公开(公告)日:2013-05-22

    申请号:CN201180045547.8

    申请日:2011-09-16

    Inventor: 田边哲也

    Abstract: 提供如下一种方法:在使用了共焦显微镜或多光子显微镜的光测量的扫描分子计数法中,避免由于多个发光粒子暂时包含在光检测区域内而发光粒子的检测个数的精度恶化。在本发明的光分析技术中,在一边通过变更共焦显微镜或多光子显微镜的光学系统的光路使光检测区域的位置在样本溶液内移动一边在测量光的强度而生成的光强度数据中,在以选择性地将具有超过阈值的强度的信号检测为表示发光粒子的光的信号的方式个别检测表示发光粒子的光的信号时,设定阈值使得选择性地检测表示来自包含在光检测区域内的比该光检测区域狭小的区域中的发光粒子的光的信号。

Patent Agency Ranking