其上有重叠的段信息的记录介质、以及用于形成、记录和再现该记录介质的设备和方法

    公开(公告)号:CN100565689C

    公开(公告)日:2009-12-02

    申请号:CN200580008679.8

    申请日:2005-03-03

    Inventor: 朴容彻

    Abstract: 一种记录介质,诸如包括记录在上面的段信息的高密度和/或光学记录介质,以及用于向该记录介质记录和从该记录介质再现的设备与方法,用于增强数据保护、数据管理和/或再现兼容性。该记录介质可包含至少一个段区,这是盘上由多个有效PAC控制的区域,并且如果所指定的段区相互重叠,则可应用控制重叠区域的各PAC的控制信息来控制该重叠区域。

    用于在一次写入光盘上记录管理信息的方法和装置

    公开(公告)号:CN101436419A

    公开(公告)日:2009-05-20

    申请号:CN200810183969.1

    申请日:2004-07-09

    Inventor: 朴容彻

    Abstract: 提供了将管理信息记录在具有至少一个记录层的一次写入光记录介质上的方法和装置。所述光记录介质包括多条轨迹,数据连续地记录在所述轨迹上。所述方法包括在至少一个记录层上记录轨迹信息,所述轨迹信息属于所述多条轨迹并包括轨迹条目列表,所述轨迹条目列表包括多条轨迹条目,每一条轨迹条目属于一条轨迹并包括:会话状态区域,用于存储会话开始信息,所述会话开始信息指示所属轨迹是否是由至少一条轨迹形成的会话的开始;开始地址区域,指示所属轨迹从何处开始;以及最后记录地址,在所述最后记录地址存储所属轨迹的最后记录地址,其中所述会话状态区域位于所述开始地址区域和所述最后记录地址区域之间。

    一次性写入光学记录介质及其缺陷管理信息的管理方法

    公开(公告)号:CN101261867A

    公开(公告)日:2008-09-10

    申请号:CN200810083209.3

    申请日:2003-10-01

    Inventor: 朴容彻 金成大

    CPC classification number: G11B20/1883 G11B2020/1873 G11B2220/20

    Abstract: 本发明提供了一次性写入光学记录介质,用于分配所述一次性写入光学记录介质的缺陷管理区的方法,以及用于分配所述一次性写入光学记录介质的备用区的方法。这里提供的具有至少一个记录层的一次性写入光学记录介质上的缺陷的管理方法包括下列步骤:分别分配至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区至所述光学记录介质,将缺陷管理信息记录在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上;以及使用所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区。

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