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公开(公告)号:CN104471117B
公开(公告)日:2016-10-05
申请号:CN201380035985.5
申请日:2013-07-10
CPC classification number: C30B15/32 , C30B9/06 , C30B15/30 , C30B19/068 , C30B29/36 , Y10T117/1024 , Y10T117/1032
Abstract: SiC单晶体的制造装置(10)用于溶液生长法。SiC单晶体的制造装置(10)包括晶种轴(28)和坩埚(14)。晶种轴(28)具有供SiC晶种(32)安装的下端面(28S)。坩埚(14)用于收纳Si-C溶液(15)。晶种轴(28)包括筒部(28A)、底部(28B)和低导热性构件(28C)。底部(28B)配置于筒部(28A)的下端,且具有下端面(28S)。低导热性构件(28C)配置于底部(28B)的上表面,且具有比底部(28B)的热传导率低的热传导率。利用该制造装置,能够使SiC晶种的结晶生长面内的温度不易出现偏差。
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公开(公告)号:CN104662213A
公开(公告)日:2015-05-27
申请号:CN201380046179.8
申请日:2013-09-02
CPC classification number: C30B19/04 , C30B9/00 , C30B19/068 , C30B29/36 , C30B19/06 , C30B19/064
Abstract: SiC单晶的制造装置(10)被用于利用溶液生长法制造SiC单晶,该SiC单晶的制造装置(10)包括:晶种轴(22A),其具有用于安装SiC晶种(32)的下端面(22S);坩埚(14),其用于收纳Si-C溶液(15);搅拌构件(24A),其被浸渍于Si-C溶液(15);驱动源(20B、24D),其使坩埚(14)和搅拌构件(24A)中的任一者相对于另一者相对旋转。搅拌构件(24A)的下端配置为比安装于晶种轴(22A)的下端面(22S)的SiC晶种(32)的下端(32a)低。
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公开(公告)号:CN103210127A
公开(公告)日:2013-07-17
申请号:CN201180054125.7
申请日:2011-11-04
CPC classification number: C30B15/20 , C30B15/10 , C30B15/30 , C30B15/36 , C30B17/00 , C30B19/02 , C30B29/36
Abstract: 本发明提供一种n型SiC单晶的制造方法,其能够抑制所制造的多个n型SiC单晶锭间的氮浓度的偏差。本实施方式的n型SiC单晶的制造方法包括:准备具备腔室(1)的制造装置(100)的工序,所述腔室(1)具有配置坩埚(7)的区域;将配置坩埚(7)的区域加热,并且将腔室(1)内的气体真空排气的工序;在真空排气后,将含有稀有气体和氮气的混合气体填充到腔室(1)内的工序;利用加热使配置于区域的坩埚(7)中容纳的原料熔融,生成含有硅和碳的SiC熔液(8)的工序;以及,在混合气体气氛下,将SiC晶种浸渍于SiC熔液,在SiC晶种上培养n型SiC单晶的工序。
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