公开(公告)号：CN115015280A

公开(公告)日：2022-09-06

申请号：CN202210196953.4

申请日：2022-03-01

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 小林信次 ,  松田俊介

IPC: G01N21/896 ,  G01N21/89

Abstract: 本发明提供一种能够检测出光学特性的不均的缺陷检查方法。所述缺陷检查方法具有：配置工序，依次地并且满足下述的条件a1及条件a2地配置第1滤光片、光学膜、第2滤光片：(a1)所述第1滤光片的第1偏振片的吸收轴与所述被检偏振片的吸收轴所成的角度θ1为90°±5°的范围内，(a2)所述被检偏振片的吸收轴与所述第2滤光片的第2偏振片的吸收轴所成的角度θ2为90°±35°的范围内；检测工序，检测从光源照射、并依次透过所述第1滤光片、所述光学膜以及所述第2滤光片的光；以及判断工序，基于所述检测工序中的检测结果，判断所述光学膜的缺陷。

公开(公告)号：CN105467492B

公开(公告)日：2021-10-26

申请号：CN201510616255.5

申请日：2015-09-24

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 郭镐益 ,  水口景子 ,  小林信次

IPC: G02B5/30 ,  G02B1/14

Abstract: 本发明提供一种偏振板，其是依次包含第一保护膜、由聚乙烯醇系树脂构成的偏振片、和粘合剂层的偏振板，其中，粘合剂层在80℃下的损耗弹性模量小于0.06MPa，在85℃下加热了500小时时的吸收轴方向上的尺寸收缩量为500μm以下。偏振板还可包含配置于偏振片与粘合剂层之间的第二保护膜。

公开(公告)号：CN111721502A

公开(公告)日：2020-09-29

申请号：CN202010186956.0

申请日：2020-03-17

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 小林信次 ,  宫路隆昭

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明提供可容易地判断偏振板有无缺陷的检查方法及检查装置。依次排列地配置具备偏振板(1A)和由聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂形成的剥离膜(16a)的膜状的被检查物(10A)；包含波长550nm时的面内相位差值比剥离膜(16a)的波长550nm时的面内相位差值大500～600nm的区域、且对剥离膜(16a)所具有的双折射进行补偿的相位差板(4)；与偏振板(1A)构成正交尼克尔棱镜的偏振滤光片(3A)，从被检查物(10A)侧或偏振滤光片(3A)侧中的任一侧，以光轴(9)通过该区域的方式使光入射，从另一侧观察偏振滤光片(3A)或被检查物(10A)来判断偏振板(1A)有无缺陷。

公开(公告)号：CN105467492A

公开(公告)日：2016-04-06

申请号：CN201510616255.5

申请日：2015-09-24

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 郭镐益 ,  水口景子 ,  小林信次

IPC: G02B5/30 ,  G02B1/14

Abstract: 本发明提供一种偏振板，其是依次包含第一保护膜、由聚乙烯醇系树脂构成的偏振片、和粘合剂层的偏振板，其中，粘合剂层在80℃下的损耗弹性模量小于0.06MPa，在85℃下加热了500小时的吸收轴方向上的尺寸收缩量为500μm以下。偏振板还可包含配置于偏振片与粘合剂层之间的第二保护膜。

公开(公告)号：CN116648618B

公开(公告)日：2025-05-02

申请号：CN202280008333.1

申请日：2022-01-14

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 小林信次 ,  松田俊介

IPC: G01N21/88 ,  G01N21/958

Abstract: 本发明是将具有直线偏振板的光学膜作为被检查物的上述直线偏振板的缺陷检查方法，上述光学膜依次具有剥离膜、上述直线偏振板和防护膜，上述缺陷检查方法具有配置工序：沿着光轴依次配置具有第1偏振片的第1滤光片、第1相位差补偿板、上述光学膜、第2相位差补偿板和具有第2偏振片的第2滤光片，并且以上述剥离膜侧的表面与上述第1相位差补偿板对置的朝向配置上述光学膜，上述第1相位差补偿板补偿上述剥离膜所具有的双折射，上述第2相位差补偿板补偿上述防护膜所具有的双折射。

公开(公告)号：CN111721502B

公开(公告)日：2024-06-11

申请号：CN202010186956.0

申请日：2020-03-17

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 小林信次 ,  宫路隆昭

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明提供可容易地判断偏振板有无缺陷的检查方法及检查装置。依次排列地配置具备偏振板(1A)和由聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂形成的剥离膜(16a)的膜状的被检查物(10A)；包含波长550nm时的面内相位差值比剥离膜(16a)的波长550nm时的面内相位差值大500～600nm的区域、且对剥离膜(16a)所具有的双折射进行补偿的相位差板(4)；与偏振板(1A)构成正交尼克尔棱镜的偏振滤光片(3A)，从被检查物(10A)侧或偏振滤光片(3A)侧中的任一侧，以光轴(9)通过该区域的方式使光入射，从另一侧观察偏振滤光片(3A)或被检查物(10A)来判断偏振板(1A)有无缺陷。

公开(公告)号：CN116648618A

公开(公告)日：2023-08-25

申请号：CN202280008333.1

申请日：2022-01-14

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 小林信次 ,  松田俊介

IPC: G01N21/958

Abstract: 本发明是将具有直线偏振板的光学膜作为被检查物的上述直线偏振板的缺陷检查方法，上述光学膜依次具有剥离膜、上述直线偏振板和防护膜，上述缺陷检查方法具有配置工序：沿着光轴依次配置具有第1偏振片的第1滤光片、第1相位差补偿板、上述光学膜、第2相位差补偿板和具有第2偏振片的第2滤光片，并且以上述剥离膜侧的表面与上述相位差补偿板对置的朝向配置上述光学膜，上述第1相位差补偿板补偿上述剥离膜所具有的双折射，上述第2相位差补偿板补偿上述防护膜所具有的双折射。

公开(公告)号：CN116519711A

公开(公告)日：2023-08-01

申请号：CN202310085817.2

申请日：2023-01-18

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 小林信次 ,  松田俊介

IPC: G01N21/95 ,  G01N21/88 ,  G01N21/55 ,  G01N21/21

Abstract: 本发明提供一种反射型的检查方法，其能够容易地判断圆偏振板有无缺陷。一种检查方法，其是判断膜状的被检查物(10)有无缺陷的检查方法，所述被检查物(10)具备：偏振膜(11)与相位差膜(14)层叠而成的圆偏振板(1)、以及层叠于圆偏振板(1)的相位差膜(14)侧且包含聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂的剥离膜(16a)。配置光源(4)、使规定波长的光透过的带通滤波器(2)、第1偏振部(3A)、被检查物(10)以及第2偏振部(3B)，使光相对于被检查物(10)的入射角θ变化以使剥离膜(16a)所具有的相位差的影响变小。从第2偏振部(3B)侧观察被被检查物(10)反射的光来判断圆偏振板(1)有无缺陷。

公开(公告)号：CN115979966A

公开(公告)日：2023-04-18

申请号：CN202211243960.1

申请日：2022-10-11

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 小林信次 ,  川下隆志

IPC: G01N21/21 ,  G01N21/01 ,  G02B5/30

Abstract: 本发明能够提供一种即使是采取了偏光太阳镜对策的椭圆偏振板，也能够简便地检查直线偏振片的吸收轴的方向的方法以及包括该方法的椭圆偏振板的制造方法。一方案的检查方法包括：测定从检查对象(椭圆偏振板)内的λ/4板射出的椭圆偏振光的相对于n个测定波长λi(i＝1～n)的方位角Ψ(λi)的工序；以及基于从层叠体的λ/4板射出的椭圆偏振光的方位角Ψ(λi)和层叠体的直线偏振片的吸收轴或透射轴相对于层叠体的基准边的角度所满足的直线关系式及上述方位角Ψ(λi)的测定结果，求出检查对象的直线偏振片的吸收轴或透射轴的方向的工序。

公开(公告)号：CN101329464A

公开(公告)日：2008-12-24

申请号：CN200710111860.2

申请日：2007-06-20

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 九内雄一朗 ,  东浩二 ,  小林信次

IPC: G02F1/1335 ,  G02F1/13363 ,  G02F1/1333

Abstract: 本发明提供复合偏振片、液晶显示装置、复合偏振片的制造方法及光学补偿膜的制造方法。在由纤维素类树脂构成的透明支持体(3)上形成定向膜(4)，再在其上形成液晶化合物的包覆层(5)，由此形成的光学补偿膜(2)由其透明支持体(3)侧粘贴在偏光镜(1)的单面，在由此形成的复合偏振片中，对该光学补偿膜(2)进行紫外线照射，使得裁断成2cm×5cm的长方形、并以液晶化合物的包覆层为内侧作成周长为5cm、高度为2cm的圆筒的状态下浸渍于60℃的温水中60分钟时，发生气泡的密度小于100个/cm2。